佐々木 澄夫 | セイコー電子工業(株)
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概要
関連著者
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鈴木 佳子
静岡大学電子工学研究所
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佐々木 澄夫
セイコー電子工業(株)
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福田 安生
静岡大学電子工学研究所
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安田 安生
静岡大学電子工学研究所
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福田 安生
静岡大学電子科学研究科
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大澤 隆雄
セイコー電子工業(株)
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福田 安生
日本鋼管(株)中央研究所
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鈴木 佳子
静大
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眞田 則明
静岡大学電子工学研究所
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大澤 隆雄
東工大原子炉
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大沢 隆雄
東工大原子炉
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大澤 隆雄
(株)第二精工舎
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福田 安生
静岡大 電子工研
著作論文
- 高分解能X線光電子分光法(XPS)による(NH_4)_2S_x処理 GaAs(111)A,(111)B表面の研究(II)
- 高分解能X線光電子分光(XPS)による(NH_4)_2S_x処理InAs(001)表面の研究
- 高分解能X線光電子分光(XPS)による(NH4)2Sx処理GaAs(001),(111)A,(111)B表面の研究
- (NH4)2Sx処理GaP(001),(111)A,(111)B表面の高分解能X線光電子分光(XPS)による研究
- 高分解能X線光電子分光(XPS)による(NH_4)_2S_x処理InP(001)表面の研究
- 高分解能X線光電子分光(XPS)による(NH_4)_2S_x処理GaAs(001),(111)A,(111)B表面の研究
- (NH_4)_2S_x処理GaP(001),(111)A,(111)B表面の高分解能X線光電子分光(XPS)による研究