「オーストラリア-アジアXPSシンポジウム1995」報告
スポンサーリンク
概要
著者
関連論文
-
26a-Q-6 123、124系酸化物におけるPrのXPS
-
5p-YE-5 高温超伝導酸化物におけるBa、Sr、Ca、およびYの内殻レベルの結合エネルギー
-
5p-YE-3 Bi-2201系酸化物の電子状態変化の電子分光法による研究
-
30p-PSB-34 Bi_Sr_CuO_yにおける電子状態変化の電子分光による研究
-
26p-PSA-53 YBa_2Cu_3O_Br_x超伝導体のXPSによる研究
-
25a-Q-5 Bi_2Sr_2Ca_Cu_nO_y(N=1〜3)へのヨウ素のインターカレーションと電荷移動
-
28p-PS-82 Bi系超洋伝導酸化物におけるXPS Ols準位の解析
-
光電子分光,逆光電子分光によるBi_2+xSr_2-xCuO_yの電子状態
-
Bi_2(Sr,Ca)_3Cu_2O_yのCuサイトへのCoイオン置換とその電子状態
-
28p-APS-24 BaPb_xBi_O_の光電子分光
-
27p-APS-101 XPSによるK_xC_の電子状態の研究
-
25a-PS-70 Pb系超伝導体の光電子分光
-
酸素量を変えたBi_2Sr_2CaCu_2O_y超伝導体の光電子分光
-
2p-TC-1 Bi系超伝導体における真空加熱処理効果
-
31p-PS-63 Bi-O系超伝導体における電子状態
-
6p-ZA-4 Nd_Ce_xCuO_における光電子分光
-
次世代デバイス用ゲート絶縁膜としてのハフニウム系薄膜の表面分析法を用いた評価
-
電子分光法による界面の解析
-
(NH_4)_2S_x溶液処理したInAs(lll)表面の研究
-
(NH_4)_2S_x処理したInAs(111)A-(2×2)-S表面の構造解析
-
X線光電子分光法(XPS)による(NH_4)_2S_x処理InSb(001)表面の研究
-
Bi_2(Sr_1-_xLa_x)_2CoO_yセラミックの作製と電子状態の研究
-
高分解能X線光電子分光法(XPS)による(NH_4)_2S_x処理 GaAs(111)A,(111)B表面の研究(II)
-
H_2S処理を行ったInP(001)の表面構造および電子状態
-
高分解能X線光電子分光(XPS)による(NH_4)_2S_x処理InAs(001)表面の研究
-
ターシャリブチル燐,トリエチル燐のSi(001)表面上での分解過程
-
高分解能X線光電子分光(XPS)による(NH4)2Sx処理GaAs(001),(111)A,(111)B表面の研究
-
(NH4)2Sx処理GaP(001),(111)A,(111)B表面の高分解能X線光電子分光(XPS)による研究
-
電子分光法によるトリメチル燐,トリエチル燐のSi(001),GaP(001)への吸着と分解の研究
-
Si表面におけるターシャリブチルホスフィン(TBP)の吸着と分解過程の研究
-
高分解能X線光電子分光(XPS)による(NH_4)_2S_x処理InP(001)表面の研究
-
XPS,UPSによるトリエチルインジウムのGaPへの吸着と分解の研究
-
Zn-Mn合金電気めっきの皮膜構造解析
-
熱延鋼板における溶融亜鉛めっき合金化挙動
-
Si含有鋼板の表面構造と溶融亜鉛めっき密着性の関係
-
オージェ電子分光法定量分析における装置補正因子
-
酸化物試料の X 線光電子分光法による定量分析
-
イオンスパッタリングによる酸化物の X 線光電子ペクトルの変化
-
深さ方向分析におけるイオンスパッタリング収率の測定
-
オージェ電子分光法による状態分析のためのスペクトル微細構造観察
-
321 鉄-亜鉛合金電気めっき鋼板界面の分析(元素分析, 表面分析, 分析, 日本鉄鋼協会第 108 回(秋季)講演大会)
-
X線光電子分光法によるa-Si:H/ITO,SnO_2界面の研究
-
シリコンのグロー放電プラズマ酸化膜のX線光電子分光法による評価
-
ホットウォール蒸着法により作製したSrSe薄膜の構造
-
404 Zn-Mn 合金電気めっき層の結晶構造と加熱による相変化(表面解析, 表面分析, 元素分析, 分析・表面処理, 日本鉄鋼協会第 113 回(春季)講演大会)
-
Zn-13%Ni 電気合金めつき鋼板の腐食生成物の各種表面分析機器による解析(表面処理分析小特集)
-
27a-PB-2 ターシャリブチルホスフィン(TBP)のSi(001)上での分解機構の研究
-
26pXC-8 Si表面上におけるピロール及びピラジンの吸着構造(表面・界面構造(シリコン表面),領域9(表面・界面, 結晶成長))
-
講義 III-V族化合物半導体表面及び硫黄処理表面分析--組成、構造、電子状態
-
高分解能X線光電子分光(XPS)による(NH_4)_2S_x処理GaAs(001),(111)A,(111)B表面の研究
-
(NH_4)_2S_x処理GaP(001),(111)A,(111)B表面の高分解能X線光電子分光(XPS)による研究
-
窒素イオンビームによるInP(001)表面の窒化
-
(NH_4)_2S_x処理したGaAs表面のX線光電子分光法による研究
-
456 Zn-Mn 合金電気めっき層の構造解析(電気 Zn 系めつき・化成処理, 分析・表面処理, 日本鉄鋼協会第 111 回(春季)講演大会)
-
金属の表面分析の現状と課題 (2)(共同研究会鉄鋼分析部会表面分析小委員会)
-
金属の表面分析の現状と課題 (1)(共同研究会鉄鋼分析部会表面分析小委員会)
-
討 28 X 線光電子分光法 (XPS) による状態分析 : 鉄鋼共同研究会分析部会表面分析小委員会報告(V 鉄鋼における表面分析の現状と問題点, 第 111 回 講演大会討論会講演概要)
-
討 25 Ni(13%)-Zn 電気合金めっき腐食層の AES, XPS X 線回折による分析(IV 薄板・表面処理鋼板の表面解析とその応用, 第 109 回 講演大会討論会講演概要)
-
高分解能電子エネルギー損失分光器(HREELS)の作製とトリメチルホスフィンのSi(111)表面での分解過程への応用
-
表面状態の解析-33-紫外光電子分光法(UPS),逆光電子分光法(IPES)
-
高分解能紫外逆光電子分光装置の開発
-
超高真空走査ケルビンプローブ顕微鏡による原子レベルの電位像観察
-
International Symposium on Surface Nano-Control of Environmental Catalysts and Related Materials (6th Iketai Conference)-Toward Understanding Material Surfaces and Surface Reactions in an Atomic/Molecular Scale-報告
-
「オーストラリア-アジアXPSシンポジウム1995」報告
-
企画および講演大会の15年の歩み
-
機器分析解説シリ-ズ-8-紫外線光電子分光装置
-
X線光電子分光法(XPS)の原理と機械工学への応用
-
表面分析講座-9-オ-ジェ電子分光法(AES,SAM)
-
電子分光法による表面・界面の解析 (物理表面の物理分析技術)
-
ホットウォ-ル蒸着法によるSrSe薄膜の作製 (第29回真空に関する連合講演会プロシ-ディングス)
もっと見る
閉じる
スポンサーリンク