20aPS-69 TEM-STM による銀ナノワイヤーのコンダクタンス計測

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 2003-08-15

著者

• 谷城 康眞

  東工大院理工

• 高柳 邦夫

  東工大院理工

• 伊藤 亮治

  東工大院理工

• 谷城 康眞

  東工大院理工:jst-crest

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