22aXB-1 収差補正TEM法による金ナノ粒子/ルチルの界面構造の差異の観察(22aXB 微粒子・クラスタ,領域9(表面・界面,結晶成長))

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概要

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• 2008-08-25

著者

• 田中 崇之

  東工大院理工

• 高柳 邦夫

  東工大院理工

• 佐野 健太郎

  東工大院理工

• 近藤 行人

  Jst-crest:日本電子

• 高柳 邦夫

  東京工業大学

• 沢田 英敬

  Jst-crest:日本電子

• 沢田 英敬

  東大工

• 澤田 英敬

  Jst-cresta:日本電子

• 細川 史生

  日本電子株式会社

• 沢田 英敏

  Jst-ceest:日本電子

• 高柳 邦夫

  東工大理工

• 安藤 雅文

  東工大院理工

• 沢田 英敬

  JS-CREST

• 細川 史生

  JS-CREST

• 近藤 行人

  JS-CREST

• 田中 崇之

  東工大院理工:jst-crest

• 細川 史生

  Jst-crest:日本電子

• 田中 崇之

  東工大院総理工:東工大院理工

• 田中 崇之

  東京工業大学大学院理工学研究科

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