27pTN-12 LiV2O4結晶の環状明視野像におけるリチウムカラム強度解析(27pTN X線・粒子線(陽電子・電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))

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概要

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• 2011-03-03

著者

• 高柳 邦夫

  東工大院理工

• 奥西 栄治

  日本電子(株)

• 高柳 邦夫

  東工大理

• 大島 義文

  東工大総理工

• 高柳 邦夫

  東工大総理工

• 高柳 邦夫

  東工大 総理工

• 近藤 行人

  Jst-crest:日本電子

• 高柳 邦夫

  東京工業大学・大学院理工学研究科・物性物理学専攻

• 高柳 邦夫

  東京工業大学

• 澤田 英敬

  Jst-cresta:日本電子

• 奥西 栄治

  日本電子:jst-crest

• 沢田 英敬

  日本電子(株)

• 沢田 英敏

  Jst-ceest:日本電子

• 高柳 邦夫

  東工大

• 高柳 邦夫

  東工大理工

• 大島 義文

  東工大 総理工

• 近藤 行人

  日本電子

• 李 少淵

  東工大

• 谷城 康眞

  東工大院総合理工

• 李 少淵

  東工大院総合理工

• 大島 義文

  阪大電顕センター

• 高柳 邦夫

  東工大院総合理工

• 奥西 栄治

  日本電子

• 高柳 邦夫

  東京工業大学物性物理学専攻

• 谷城 康眞

  東京工業大学大学院理工学研究科

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