高柳 邦夫 | 東工大院総合理工

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概要

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• 高柳 邦夫

  東工大理

• 高柳 邦夫

  東工大総理工

• 高柳 邦夫

  東工大 総理工

• 高柳 邦夫

  東京工業大学・大学院理工学研究科・物性物理学専攻

• 高柳 邦夫

  東工大理工

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• 高柳 邦夫

  東京工業大学

• 高柳 邦夫

  東京工業大学物性物理学専攻

• 高柳 邦夫

  東工大院理工

• 高柳 邦夫

  東工大

• 大島 義文

  東工大 総理工

• 谷城 康眞

  東工大院総合理工

• 谷城 康眞

  東京工業大学大学院理工学研究科

• 谷城 康眞

  東工大院理工

• 大島 義文

  東工大総理工

• 澤田 英敬

  Jst-cresta:日本電子

• 沢田 英敏

  Jst-ceest:日本電子

• 近藤 行人

  Jst-crest:日本電子

• 谷城 康眞

  東工大院理工:jst-crest

• 李 少淵

  東工大

• 沢田 英敬

  Jst-crest:日本電子

• 沢田 英敬

  東大工

• 近藤 行人

  JST-CREST

• 大島 義文

  阪大電顕センター

• 沢田 英敬

  JST-CREST

• 大島 義文

  JST-CREST

• 和田 麻友香

  東工大院理工

• 田中 崇之

  東工大院理工:jst-crest

• 大島 義文

  大阪大学超高圧電子顕微鏡センター

• 李 少淵

  東工大院総合理工

• 田中 崇之

  東工大院総理工:東工大院理工

• 田中 崇之

  東京工業大学大学院理工学研究科

• 田中 崇之

  東工大院理工

• 橋川 直人

  ルネサステクノロジ

• 澤田 英敬

  JST-CRESTA

• 谷城 康眞

  東工大院

• 沢田 英敬

  日本電子(株)

• 橋川 直人

  日本電子

• 朝山 匡一郎

  東工大院理工

• 小柳 聖

  東工大院理工

• 近藤 行人

  日本電子

• 澤田 英敬

  Jst-crest:日本電子

• 李 少淵

  東京工業大学大学院理工学研究科

• 山本 直紀

  東工大院理工

• 久留井 慶彦

  東京工業大学大学院理工学研究科

• 三宅 秀人

  三重大学大学院工学研究科

• 三宅 秀人

  三重大工

• 奥西 栄治

  日本電子(株)

• 小野 倫也

  阪大院工

• 炭屋 亜美

  東工大院総合理工

• 佐野 健太郎

  東工大院理工

• 竹口 雅樹

  物質・材料研究機構

• 三宅 秀人

  三重大

• 三宅 秀人

  三重大学 工学部

• 奥西 栄治

  日本電子:jst-crest

• 竹下 茜

  東工大院総理工

• 日比野 紘大

  東工大院理工

• 久保田 忠弘

  本田技研

• 大島 義文

  東工大院総理工

• 中山 佳子

  Nims

• 竹口 雅樹

  Nims

• 竹口 雅樹

  物質・材料研究機構 超高圧電子顕微鏡ステーション

• 竹口 雅樹

  (独)物質・材料研究機構 ナノ計測センター

• 金 スヒョン

  東工大院理工

• 金 秀鉉

  東工大院理工

• 久留井 慶彦

  東工大院理工

• 神保 雄

  東工大院理工

• 江成 めぐみ

  東工大院理工

• Huy Nguyen

  阪大院工

• 奥西 栄治

  日本電子

• 李 少淵

  東京工業大学物性物理学専攻

• 高柳 邦夫

  東京工業大学大学院理工学研究科

• 三宅 秀人

  三重大学

• 高柳 邦夫

  東工大院総合理工:JST-CREST

• 李 少〓

  東工大院総合理工

• 大島 義文

  JST-CREST:阪大電顕センター

• 田中 崇之

  東京工業大学

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  東京工業大学

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著作論文

• 20aHT-5 収差補正STEMによる単原子観察とZコントラストイメージング(20aHT 領域10 格子欠陥・ナノ構造(水素,ナノ粒子,金属),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 25pWZ-3 Si結晶中Sbドーパント不活性クラスター構造(25pWZ X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体格子欠陥,X線・粒子線フォノン))
• 25pWZ-2 球面収差補正ADF-STEM像におけるZ-contrast(25pWZ X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体格子欠陥,X線・粒子線フォノン))
• 25pWZ-1 CuInSe_2結晶の欠陥のSTEM観察(25pWZ X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体格子欠陥,X線・粒子線フォノン))
• 25aWS-7 O_2導入によって形成されるAu/TiO_2界面のピラー構造のTEM観察(25aWS 表面界面構造(金属・酸化物),領域9(表面・界面,結晶成長))
• 25aWS-8 球面収差補正TEMによるアモルファスカーボン膜上での金単原子の動的観察(25aWS 表面界面構造(金属・酸化物),領域9(表面・界面,結晶成長))
• 24aPS-37 Si結晶の高角度入射-STEM像の定量解析(24aPS 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 環状明視野法によるリチウム原子の定量観察 (Li電池材料解析の最前線)
• 27pTN-14 球面収差補正ADF-STEMによるZコントラストイメージング(27pTN X線・粒子線(陽電子・電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 27pTN-13 球面収差補正TEMによる非晶質炭素膜を移動する金原子の動的観察(27pTN X線・粒子線(陽電子・電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 27pTN-12 LiV2O4結晶の環状明視野像におけるリチウムカラム強度解析(27pTN X線・粒子線(陽電子・電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 28aTH-1 カーボン原子にアシストされた金アトミックチェーンの生成(28aTH ナノチューブ・ナノワイヤ,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 21aJA-9 球面収差補正STEMによるZコントラストイメージング(21aJA X線・粒子線(電子線・陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 21aJA-10 環状明視野像メカニズムの解明(21aJA X線・粒子線(電子線・陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 超高分解能電子顕微鏡によるリチウム原子の可視化
• 球面収差補正透過型電子顕微鏡法を用いたアトミックスケールでの構造解析
• 27pBL-8 表面プラズモンによるZnOナノワイヤーのルミネッセンス増強(27pBL 微粒子・ナノ結晶,顕微・近接場分光,領域5(光物性))
• 27aCL-4 薄膜試料における環状明視野像メカニズムの解明(27aCL X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 収差補正ABF-STEM法によるLi原子の直接観察
• 25aJB-9 イオン液体とマンガン酸リチウム界面におけるリチウムイオン移動と電極相変化(結晶成長,領域9(表面・界面,結晶成長))

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