近藤 行人 | JST-CREST
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概要
関連著者
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高柳 邦夫
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近藤 行人
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近藤 行人
Jst-crest:日本電子
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澤田 英敬
Jst-cresta:日本電子
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沢田 英敏
Jst-ceest:日本電子
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高柳 邦夫
東工大理工
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沢田 英敬
Jst-crest:日本電子
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沢田 英敬
東大工
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高柳 邦夫
東京工業大学
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高柳 邦夫
東工大
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田中 崇之
東工大院理工
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高柳 邦夫
東京工業大学・大学院理工学研究科・物性物理学専攻
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田中 崇之
東工大院理工:jst-crest
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田中 崇之
東工大院総理工:東工大院理工
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田中 崇之
東京工業大学大学院理工学研究科
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沢田 英敬
JST-CREST
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高柳 邦夫
東京工業大学物性物理学専攻
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佐野 健太郎
東工大院理工
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高柳 邦夫
東工大理
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大島 義文
東工大総理工
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高柳 邦夫
東工大総理工
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高柳 邦夫
東工大 総理工
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谷城 康眞
東工大院理工:jst-crest
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細川 史生
日本電子株式会社
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大島 義文
東工大 総理工
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細川 史生
Jst-crest:日本電子
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高柳 邦夫
東工大院総合理工
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谷城 康眞
東工大院理工
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橋川 直人
ルネサステクノロジ
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大島 義文
JST-CREST
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澤田 英敬
JST-CRESTA
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朝山 匡一郎
東工大院理工
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細川 史生
JST-CEEST
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澤田 英敬
Jst-crest:日本電子
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谷城 康眞
東工大院総合理工
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谷城 康眞
東京工業大学大学院理工学研究科
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炭屋 亜美
東工大院総合理工
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橋川 直人
日本電子
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安藤 雅文
東工大院理工
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安部 悠介
東工大院理工
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三宅 秀人
三重大学大学院工学研究科
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橋本 豊
東工大
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三宅 秀人
三重大工
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細川 史夫
JST-CREST
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竹口 雅樹
物質・材料研究機構
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朝山 匡一郎
ルネサステクノロジ
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谷城 康眞
JST-CREST
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高柳 邦夫
JST-CREST
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谷城 康眞
東工大院
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三宅 秀人
三重大
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三宅 秀人
三重大学 工学部
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奥西 栄治
日本電子:jst-crest
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竹下 茜
東工大院総理工
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日比野 紘大
東工大院理工
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久保田 忠弘
本田技研
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大島 義文
東工大院総理工
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中山 佳子
Nims
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竹口 雅樹
Nims
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竹口 雅樹
物質・材料研究機構 超高圧電子顕微鏡ステーション
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竹口 雅樹
(独)物質・材料研究機構 ナノ計測センター
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金 スヒョン
東工大院理工
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金 秀鉉
東工大院理工
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奥西 栄治
JST-CEEST
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三宅 秀人
三重大学
著作論文
- 21pPSA-16 ガス導入(O_2,N_2)によるAu/TiO_2の構造変化の観察(21pPSA 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 28aYG-6 球面収差補正TEM法によるグラフェン単原子直接観察(表面界面構造,領域9,表面・界面,結晶成長)
- 26aYK-13 収差補正走査型透過電子顕微鏡法によるシリコン結晶中ヒ素ドーパントの検出(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 25pWZ-3 Si結晶中Sbドーパント不活性クラスター構造(25pWZ X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体格子欠陥,X線・粒子線フォノン))
- 25pWZ-1 CuInSe_2結晶の欠陥のSTEM観察(25pWZ X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体格子欠陥,X線・粒子線フォノン))
- 25aWS-7 O_2導入によって形成されるAu/TiO_2界面のピラー構造のTEM観察(25aWS 表面界面構造(金属・酸化物),領域9(表面・界面,結晶成長))
- 23aTD-8 収差補正TEM法による酸素原子を含む金ナノ粒子/ルチルの界面構造の観察(表面ナノ構造量子物性,微粒子クラスタ,領域9,表面・界面,結晶成長)
- 24aPS-37 Si結晶の高角度入射-STEM像の定量解析(24aPS 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 21aXJ-3 金ナノ粒子/ルチル界面の酸素原子カラムの観察(表面界面構造,領域9,表面・界面,結晶成長)