近藤 行人 | 日本電子株式会社電子光学機器本部
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概要
関連著者
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近藤 行人
日本電子株式会社電子光学機器本部
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近藤 行人
日本電子
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近藤 行人
Jst-crest:日本電子
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高柳 邦夫
東京工業大学
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田中 崇之
東工大院理工
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高柳 邦夫
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日本電子(株)
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近藤 行人
日本電子株式会社
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沢田 英敬
Jst-crest:日本電子
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沢田 英敬
東大工
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澤田 英敬
Jst-cresta:日本電子
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奥西 栄治
日本電子:jst-crest
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沢田 英敬
日本電子(株)
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沢田 英敏
Jst-ceest:日本電子
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高柳 邦夫
東工大理工
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田中 崇之
東工大院理工:jst-crest
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田中 崇之
東工大院総理工:東工大院理工
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奥西 栄治
日本電子
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田中 崇之
東京工業大学大学院理工学研究科
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佐野 健太郎
東工大院理工
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小林 國男
東工大理
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細川 史生
日本電子(株)
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細川 史生
日本電子株式会社
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大川 達朗
東工大理
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吉瀬 幸司
東工大理
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細川 史生
Jst-crest:日本電子
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細川 史生
日本電子
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八木 克道
東工大理
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大島 義文
東工大総理工
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安藤 雅文
東工大院理工
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平山 博之
東工大総理工
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進藤 大輔
東北大学素材工学研究所
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進藤 大輔
東北大 多元研
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高柳 邦夫
東工大総理工
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小泉 弘明
東工大総理工
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高柳 邦夫
東京工業大学・大学院理工学研究科・物性物理学専攻
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安部 悠介
東工大院理工
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進藤 大輔
東北大学多元物質科学研究所
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田中 通義
東北大理
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今野 紀二郎
東京理科大学工学部工業化学科
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高吉 浩人
東北大理
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陣内 浩司
京都工芸繊維大学 工芸科学研究科 生命物質科学域 高分子機能工学部門
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陣内 浩司
京都工芸繊維大学工芸科学研究科生命物質科学域高分子機能工学部門
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炭屋 亜美
東工大院総合理工
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大西 秀朗
大阪大学超高圧電子顕微鏡センター
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村上 恭和
東北大学多元物質科学研究所
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山崎 和也
日本電子株式会社電子光学機器本部
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石川 勇
日本電子株式会社電子光学機器本部
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出口 俊二
日本電子株式会社電子光学機器本部
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井上 雅夫
日本電子株式会社電子光学機器本部
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進藤 大輔
東北大 素材研
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高柳 邦夫
理工
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毛利 啓之介
東工大総理工
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八木 克道
東工大 理
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及川 哲夫
日本電子株式会社
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金子 武司
日本電子株式会社
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寺内 正己
東北大理
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西岡 秀夫
日本電子株式会社
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陣内 浩司
京都工芸繊維大学
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陣内 浩司
京都工芸繊維大学大学院工芸科学研究科
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陣内 浩司
京工繊大院工芸
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元木 創平
日本電子株式会社
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青山 佳敬
日本電子株式会社
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大藏 善博
日本電子株式会社
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進藤 大輔
東北大学 素材工学研究所
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Shindo Daisuke
Institute For Materials Research Tohoku University
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Shindo Daisuke
Institute For Materials Research(imr) Tohoku University
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李 昌祐
東北大学素材工学研究所
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今野 紀二郎
東京理科大学工学部
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原田 嘉晏
日本電子
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小林 國男
東工大 理
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進藤 大輔
Inst. Of Multidisciplinary Res. For Advanced Materials Tohoku Univ.
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村上 恭和
Inst. Of Multidisciplinary Res. For Advanced Materials Tohoku Univ.
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高柳 邦夫
東工大
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大川 達朗
東工大 理
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吉瀬 幸司
東工大 理
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小林 秀雄
東工大 理
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植野 勝義
日本電子
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石川 勇
日本電子株式会社emビジネスユニット
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高柳 邦夫
東京工業大学物性物理学専攻
著作論文
- 23pGP-5 電子線非照射下のガス導入による金ナノ粒子/ルチルの構造変化の観察(23pGP ナノ構造・局所光学現象,領域9(表面・界面,結晶成長))
- TEM用二探針ピエゾ駆動ホルダの開発
- 20aWD-5 PtナノチューブのUHV-TEM観察
- 28aYH-4 球面収差補正TEM及びEELSによるグラフェン観察(28aYH 領域7,領域9合同 グラフェン構造・表面物性,領域7(分子性固体・有機導体))
- 走査透過電子顕微鏡を用いたトモグラフィ(STEMT)における空間分解能の試料厚さ依存性
- 25pYG-1 酸素導入による金ナノ粒子/ルチルの界面の状態変化(ナノ構造,領域9,表面・界面,結晶成長)
- 29pPSB-27 ガス導入TEMホルダーによるAu/TiO_2触媒のその場観察II(29pPSB 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 29pTE-8 ガス雰囲気中その場観察TEM法による金ナノ粒子/ルチルの構造変化の観察(29pTE 微粒子・クラスタ,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 新しい機能を組み込んだ高分解能・超高真空電子顕微鏡の開発と金ナノワイヤー,ナノ薄膜の構造観察
- 分析電子顕微鏡法における試料内での電子ビーム拡がりの評価
- 20aPS-73 金 HMS ナノワイヤのカイラリティーと魔法数
- Au ナノワイヤのコンダクタンス量子化
- 29p-PSB-2 超高真空REM-PEEMによる表面の観察
- 27p-S-3 超高真空-REM-PEEM法の開発
- 30p-L-8 光電子顕微鏡による表面観察
- 24p-Q-10 市販TEMを用いた光電子顕微鏡視察
- 14a-T-3 Hollow cone beam によるCBED図形の解釈
- 23aW-2 金原子鎖の電子顕微鏡像シミュレーションによる検討