小林 國男 | 東工大理
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概要
関連著者
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小林 國男
東工大理
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八木 克道
東工大理
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東工大理
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東工大理
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本庄 五郎
東工大
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本庄 五郎
東工大.物理
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日本電子株式会社電子光学機器本部
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近藤 行人
日本電子
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東工大理 物理
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東京工大理
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本庄 五郎
東京工大理
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長谷川 剛
東工大理
著作論文
- 28p-PSB-23 REM用傍熱型試料ホルダーの製作とSi表面通電効果への応用
- 28a-D-6 プロファイル法によるAu微粒子表面の高分解能電子顕微鏡観察 (動的過程)
- 28a-D-5 プロファイル法によるAu(001), (110), (111)表面の高分解能電子顕微鏡観察
- 28a-ZS-9 透過電子顕微鏡によるSi(001)表面の観察
- 27a-ZD-11 透過電子顕微鏡によるSi(111)表面の観察
- 3p-M-1 超高真空反射電子顕微鏡法による (111)Si 表面過程の観察 II
- 1a-BF-9 電顕による表面観察 I : Au(111)異常表面構造
- 27p-R-10 Siホモエピタキシャル成長のREM法によるその場観察(II)
- 5a-PS-25 REM法によるSiホモエピタキシャル成長のその場観察
- 31a-T-2 電顕内Si蒸着用E-gunの試作とその応用
- 4a-U-4 Pb(111)表面上の金属原子吸着初期過程 Au,Ag/Pb
- 3p-M-2 超高真空電顕による (111)Au 表面の観察 III
- 5p-T-11 Si(111)清浄表面および金属吸着表面の高分解能TEM観察
- 6a-B5-4 超高電圧電子顕微鏡によるREM法の試み
- 27a-ZS-12 Si清浄表面および金属吸着表面の高分解能TEM観察V
- 29p-PSB-2 超高真空REM-PEEMによる表面の観察
- 27p-S-3 超高真空-REM-PEEM法の開発
- 30p-L-8 光電子顕微鏡による表面観察
- 26a-A-1 電顕内その場蒸着法による準結晶の作成II
- 24p-Q-10 市販TEMを用いた光電子顕微鏡視察
- 25a-R-4 Si清浄表面および金属吸着表面の高分解能TEM観察IV
- 2p-TA-4 電顕内その場蒸着法による準結晶の作製
- 2p-E-13 Si清浄表面および金属吸着表面の高分解能TEM観察III
- 30a-TA-5 Si清浄表面および金属吸着表面の高分解能TEM観察II
- 30a-TA-4 電顕内酸化法によるTEM-TED観察用Si薄膜の作成
- 4p-E-5 Si(111)清浄表面の酸素・水素ガスとの反応過程の反射電顕法による観察
- 29a-Y-13 Au(001)再配列表面のTEM観察
- 4p-E-8 超高真空透過電顕法によるSi(111)(7×7)表面の観察V : 構造モデル
- 4p-E-4 1MV電顕による表面の高分解能像(2)
- 13p-T-9 1MV電顕による表面の高分解能像
- 2a-E-8 反射電顕法における散乱電子のエネルギー分析
- 1p-A-4 Si(111)表面におけるAg吸着過程の反射電顕観察
- 1a-BF-10 電顕による表面観察 II : Pd/(111)Ag,Ag(111)Pdの成長
- 4a-B-6 低融点金属のエピタキシー
- 4a-G-13 電顕内蒸着の直接観察
- 15p-H-6 MgO上蒸着膜の直接観察
- (III) Ag膜上のPdの単原子層膜の電顕観察
- 3p-F4-11 再配列表面・吸着表面の高分解能電顕Plan-view観察(表面・界面)
- タイトル無し
- 31p-A1-9 Si(111)清浄表面の酸素ガスとの反応過程の反射電顕法による観察II(31p A1 表面・界面,量子エレクトロニクス)
- 31p-A1-12 1MV電顕による表面の高分解能像III(31p A1 表面・界面,量子エレクトロニクス)