新しい機能を組み込んだ高分解能・超高真空電子顕微鏡の開発と金ナノワイヤー,ナノ薄膜の構造観察

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る
• 日本電子顕微鏡学会の論文
• 2002-03-30

著者

• 近藤 行人

  日本電子株式会社電子光学機器本部

• 近藤 行人

  日本電子株式会社

関連論文

• 23pGP-5 電子線非照射下のガス導入による金ナノ粒子/ルチルの構造変化の観察(23pGP ナノ構造・局所光学現象,領域9(表面・界面,結晶成長))
• TEM用二探針ピエゾ駆動ホルダの開発
• 20aWD-5 PtナノチューブのUHV-TEM観察
• 28aYH-4 球面収差補正TEM及びEELSによるグラフェン観察(28aYH 領域7,領域9合同 グラフェン構造・表面物性,領域7(分子性固体・有機導体))
• 走査透過電子顕微鏡を用いたトモグラフィ(STEMT)における空間分解能の試料厚さ依存性
• 25pYG-1 酸素導入による金ナノ粒子/ルチルの界面の状態変化(ナノ構造,領域9,表面・界面,結晶成長)
• 29pPSB-27 ガス導入TEMホルダーによるAu/TiO_2触媒のその場観察II(29pPSB 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 29pTE-8 ガス雰囲気中その場観察TEM法による金ナノ粒子/ルチルの構造変化の観察(29pTE 微粒子・クラスタ,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 新しい機能を組み込んだ高分解能・超高真空電子顕微鏡の開発と金ナノワイヤー,ナノ薄膜の構造観察
• 分析電子顕微鏡法における試料内での電子ビーム拡がりの評価
• 20aPS-73 金 HMS ナノワイヤのカイラリティーと魔法数
• Au ナノワイヤのコンダクタンス量子化
• 29p-PSB-2 超高真空REM-PEEMによる表面の観察
• 27p-S-3 超高真空-REM-PEEM法の開発
• 30p-L-8 光電子顕微鏡による表面観察
• 24p-Q-10 市販TEMを用いた光電子顕微鏡視察
• 14a-T-3 Hollow cone beam によるCBED図形の解釈
• 23aW-2 金原子鎖の電子顕微鏡像シミュレーションによる検討
• アブストラクト
• 収差補正走査透過電子顕微鏡を用いた環状明視野法による軽元素位置の直接観察
• アブストラクト
• 収差補正走査透過電子顕微鏡を用いた環状明視野法による軽元素位置の直接観察

もっと見る 閉じる

スポンサーリンク