及川 哲夫 | 日本電子株式会社
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概要
関連著者
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及川 哲夫
日本電子株式会社
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及川 哲夫
日本電子
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進藤 大輔
東北大 素材研
-
及川 哲夫
日本電子(株)
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飯島 澄男
日本電気株式会社
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進藤 大輔
東北大金研
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進藤 大輔
東北大素材研
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飯島 澄男
日本電気
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谷山 明
住友金属工業株式会社総合技術研究所
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川崎 正博
日本電子株式会社
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平賀 賢二
東北大金研
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進藤 大輔
東北大学素材工学研究所
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進藤 大輔
東北大学 多元物質科学研究所
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五明 明子
日本電気
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森 信文
富士写真フイルム(株)
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及川 哲夫
日本電子(株)電子光学機器本部
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飯島 澄男
基礎研
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五明 明子
Nec光エレ研
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森 信文
富士写真フイルム株式会社宮台技術開発センター
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川崎 正博
Jeol U.s.a.
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今野 紀二郎
東京理科大学工学部工業化学科
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平賀 〓二
東北大金研
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進藤 大輔
東北大 多元研
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近藤 行人
日本電子株式会社電子光学機器本部
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進藤 大輔
東北大・素材研
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進藤 大輔
東北素材研
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鈴木 徹
日本電気
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及川 哲夫
日本電気
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市橋 鋭也
日本電気
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池松 陽一
新日本製鐵(株)先端技術研究所
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谷山 明
東北大学 素材工学研究所
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竹口 雅樹
物材機構
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遠藤 徳明
日本電子株式会社
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近藤 行人
日本電子株式会社
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梁 俊模
東北大学素材工学研究所
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李 昌祐
東北大学素材工学研究所
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今野 紀二郎
東京理科大学工学部
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青柳 英二
東北大百万ボルト電顕室
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市橋 鋭也
Necナノエレクトロニクス研究所
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小倉 信彦
富士写真フィルム(株)宮台技術開発センター
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細川 史生
日本電子株式会社
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竹口 雅樹
日本電子株式会社
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鈴木 徹
NEC光エレ研
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池松 陽一
東北大・素材研
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小倉 信彦
富士写真フイルム株式会社宮台技術開発センター
-
小倉 信彦
富士写真フィルム(株)
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青柳 英二
東北大・百万ボルト電顕室
-
細川 史生
日本電子
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青柳 英二
東北大金研
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大石 孝
東北大金研
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本間 照康
日本電子
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平賀 〓二
東北大学 金研
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遠藤 徳明
日本電子株式会社電子光学機器本部
-
谷山 明
東北大学・素材工学研究所
-
進藤 大輔
東北大学・素材工学研究所
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及川 哲夫
日本電子株式会社電子光学機器技術本部
著作論文
- 30a-L-7 TEM-IPシステムによる散漫散乱の定量評価
- 29a-B-9 化合物半導体Ga_In_Asの散漫散乱の電顕による解析
- 3a-X-10 化合物半導体Al_xIn_Asの散漫散乱の電顕による解析
- 30p-ZB-4 TEM用IPの特性と応用
- 29a-ZB-1 IPによるカーボンナノチューブの電子回折図形の評価
- 27p-S-7 IPによるカーボンナノチューブの電顕像の定量解析
- 31a-TJ-6 イメージングプレートを用いた電子回折図形の定量評価
- 電子顕微鏡用イメージングプレートのDQE特性の評価
- 分析電子顕微鏡法における試料内での電子ビーム拡がりの評価
- Pt触媒ナノ粒子の明視野TEMトモグラフィーによる3D解析
- 先端的透過電子顕微鏡法によるSm-Co系永久磁石の微細組織と磁区構造評価
- エネルギーフィルターTEMによるCu-Pd合金の短範囲規則散漫散乱の定量解析
- 透過電子顕微鏡用イメージングプレート・システムの開発
- 27a-ZB-10 IPを用いた高エネルギー電子線回折図形の定量評価
- 64MDRAM-O-N-O 膜のナノメーター分析
- 電子顕微鏡用イメージングプレートの特性と電子線画像の定量計測
- 分析電子顕微鏡