及川 哲夫 | 日本電子(株)
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概要
関連著者
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及川 哲夫
日本電子(株)
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及川 哲夫
日本電子
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及川 哲夫
日本電子株式会社
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及川 哲夫
日本電子(株)電子光学機器本部
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及川 哲夫
日本電子(株)応用研究センター
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進藤 大輔
東北大 素材研
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谷山 明
住友金属工業株式会社総合技術研究所
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進藤 大輔
東北大金研
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平賀 〓二
東北大金研
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奥西 栄治
日本電子(株)
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進藤 大輔
東北大学 多元物質科学研究所
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進藤 大輔
東北大・素材研
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森 信文
富士写真フイルム(株)
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池松 陽一
新日本製鐵(株)先端技術研究所
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池松 陽一
東北大・素材研
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森 信文
富士写真フイルム株式会社宮台技術開発センター
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平賀 〓二
東北大学 金研
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谷山 明
東北大学・素材工学研究所
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進藤 大輔
東北大学・素材工学研究所
著作論文
- 30p-ZB-4 TEM用IPの特性と応用
- 31a-TJ-6 イメージングプレートを用いた電子回折図形の定量評価
- 第3章 ナノ粒子の計測と分析 : 3. 7 電子線を用いたナノ粒子の計測・分析技術
- TEMの原理と触媒の分析
- エネルギー分散型X線分光法
- 電子顕微鏡による分析技法の最先端(磁性に関連したセンシング技術の広がりとその最前線)
- 電子顕微鏡による分析技法の最先端
- エネルギーフィルターTEMによるCu-Pd合金の短範囲規則散漫散乱の定量解析
- ラジオルミノグラフィ(RLG, 放射線測定ルミネッセンス輝尽性発光技術)11.電子顕微鏡におけるイメージングプレートの応用
- 最近の電子顕微鏡によるナノ観察と分析技術
- 画像記録・処理装置
- 粒子の形態分析 2. 粒子形状分析 : 2. 3 透過電子顕微鏡
- (1) IP の電子顕微鏡への応用(主題 : 素材とそのプロセシングの新しい解析技術)(素材工学研究所第 3 回研究懇談会)(素材工学研究会記事)
- 分析電子顕微鏡
- 電子顕微鏡用イメージングプレートの特性と電子線画像の定量計測