及川 哲夫 | 日本電子(株)電子光学機器本部

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著作論文

• 第3章 ナノ粒子の計測と分析 : 3. 7 電子線を用いたナノ粒子の計測・分析技術
• Pt触媒ナノ粒子の明視野TEMトモグラフィーによる3D解析
• TEMの原理と触媒の分析
• エネルギー分散型X線分光法
• トモグラフィーならわかる試料内部の立体構造 (日本顕微鏡学会第48回シンポジウム 材料科学と生命科学のクロストーク--顕微解析の最前線) -- (非生物系セッション1 電子顕微鏡トモグラフィによる三次元構造再構成--トモグラフィで何が見えるのか)
• ラジオルミノグラフィ(RLG, 放射線測定ルミネッセンス輝尽性発光技術)11.電子顕微鏡におけるイメージングプレートの応用
• 透過電子顕微鏡用イメージングプレート・システムの開発
• 電子顕微鏡におけるイメ-ジングプレ-トの応用

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