最近の電子顕微鏡によるナノ観察と分析技術
スポンサーリンク
概要
著者
関連論文
-
23pGP-5 電子線非照射下のガス導入による金ナノ粒子/ルチルの構造変化の観察(23pGP ナノ構造・局所光学現象,領域9(表面・界面,結晶成長))
-
27pRE-9 収差補正TEM/STEMを用いたLa_2O_3/Si界面ラフネスの精密解析(27pRE X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
-
30p-ZB-4 TEM用IPの特性と応用
-
31a-TJ-6 イメージングプレートを用いた電子回折図形の定量評価
-
25aYH-3 HRTEMおよびHAADF-STEMによるβ-FeSi_2ナノドットの微細構造評価(25aYH 表面界面構造,領域9(表面・界面,結晶成長))
-
28aYH-4 球面収差補正TEM及びEELSによるグラフェン観察(28aYH 領域7,領域9合同 グラフェン構造・表面物性,領域7(分子性固体・有機導体))
-
23pTC-9 極薄Si酸化膜を用いたSi(001)表面上のGeナノドットの微細構造および組成の評価(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
-
13pTJ-8 高分解能電子顕微鏡像及び HAADF STEM 像による Si/SiO_2 界面の構造決定(電子線, 領域 10)
-
28pXM-6 HAADF STEM法によるSi/SiO_2界面の構造解析(X線・粒子線(電子線))(領域10)
-
28aXM-4 高分解能small angle BF STEM及びlarge angle BF STEM像の形成機構(X線・粒子線(電子線))(領域10)
-
25pYG-1 酸素導入による金ナノ粒子/ルチルの界面の状態変化(ナノ構造,領域9,表面・界面,結晶成長)
-
29pPSB-27 ガス導入TEMホルダーによるAu/TiO_2触媒のその場観察II(29pPSB 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
-
29pTE-8 ガス雰囲気中その場観察TEM法による金ナノ粒子/ルチルの構造変化の観察(29pTE 微粒子・クラスタ,領域9(表面・界面,結晶成長))
-
第3章 ナノ粒子の計測と分析 : 3. 7 電子線を用いたナノ粒子の計測・分析技術
-
分析電顕としてのCsコレクター (最新分析手法とその応用)
-
24aYK-11 球面収差補正STEMによるシリコン中ドーパント原子の運動の観察(24aYK X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
-
TEMの原理と触媒の分析
-
エネルギー分散型X線分光法
-
電子顕微鏡による分析技法の最先端(磁性に関連したセンシング技術の広がりとその最前線)
-
電子顕微鏡による分析技法の最先端
-
エネルギーフィルターTEMによるCu-Pd合金の短範囲規則散漫散乱の定量解析
-
ラジオルミノグラフィ(RLG, 放射線測定ルミネッセンス輝尽性発光技術)11.電子顕微鏡におけるイメージングプレートの応用
-
最近の電子顕微鏡によるナノ観察と分析技術
-
半導体デバイスにおけるハイブリッドTEM/STEMの応用
-
β型Ti合金に生成する時効ω相の微細構造
-
画像記録・処理装置
-
粒子の形態分析 2. 粒子形状分析 : 2. 3 透過電子顕微鏡
-
(1) IP の電子顕微鏡への応用(主題 : 素材とそのプロセシングの新しい解析技術)(素材工学研究所第 3 回研究懇談会)(素材工学研究会記事)
-
27pTN-12 LiV2O4結晶の環状明視野像におけるリチウムカラム強度解析(27pTN X線・粒子線(陽電子・電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
-
分析電子顕微鏡
-
電子顕微鏡用イメージングプレートの特性と電子線画像の定量計測
もっと見る
閉じる
スポンサーリンク