STMと組み合わせた超高真空電子顕微鏡でみる深針-シリコン表面

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概要

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• 日本電子顕微鏡学会の論文
• 1999-11-30

著者

• 高柳 邦夫

  東京工業大学・大学院理工学研究科・物性物理学専攻

• 高柳 邦夫

  東京工業大学

• 内藤 賀公

  東京工業大学大学院総合理工学研究科

• 高柳 邦夫

  東工大

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