25aWB-3 UHV-TEM法によるSi(111)√<3>×√<3>-Ag上に成長したAg薄膜界面構造の研究

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 2000-09-10

著者

• 平山 博之

  東工大総理工

• 高柳 邦夫

  東工大理

• 平山 博之

  東工大理工

• 大島 義文

  東工大理工

• 中出 浩之

  東工大総理工

• 中出 浩之

  東工大理

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