岡本 創 | Ntt物性基礎研
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概要
関連著者
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岡本 創
Ntt物性基礎研
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山口 浩司
Ntt物性基礎研
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山口 浩司
東京大学大学院 情報理工学系研究科
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山口 浩司
三菱重工業(株)
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宮下 宣
NTT-AT
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平山 祥郎
NTT物性基礎研
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平山 祥郎
Ntt物性基礎研:東北大理:sorst-jst
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平山 博之
東工大・総理工
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高柳 邦夫
東工大・総理工
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宮下 宣
NTTアドバンステクノロジ
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岡本 創
東工大・総理工
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平山 祥郎
東北大理
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丸田 裕己
東大工
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石原 直
東大工
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赤崎 達志
NTT物性基礎研
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植木 峰雄
NTTエレクトロニクステクノ株式会社
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泉田 渉
東北大理
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山口 浩司
Ntt物性科学基礎研究所
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高島 章
東工大・総理工
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高柳 邦夫
東工大
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植木 峰雄
NELテクノ
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山口 浩司
根室市立病院外科
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平山 祥郎
NTT物性科学基礎研
著作論文
- 25pXL-14 GaAs/AlGaAs二次元電子系におけるピエゾ電圧効果(25pXL 量子ホール効果,領域4(半導体,メゾスコピック系・局在))
- 27aXB-1 量子ホール系における歪効果と電子系によるエネルギー散逸(27aXB 量子ホール効果,領域4(半導体,メゾスコピック系・局在))
- 19pYL-2 ピエゾ抵抗における超伝導近接効果(超伝導・電荷密度波,領域6(金属,超低温,超伝導・密度波))
- 23aXA-5 半導体微細ロール構造の機械振動における曲率依存性(23aXA 量子細線・グラフェン,領域4(半導体メゾスコピック系・局在))
- 31p-YF-15 表面欠陥を導入したSi(111)表面上のAg薄膜成長のSTM観察
- 31a-T-3 Arイオンスパッタ時のSi(111)7×7表面における欠陥の生成と回復