球面収差補正高分解能電子顕微鏡のナノ材料観察への応用
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概要
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Recent development of spherical aberration correction in high-resolution transmission electron microscopy (Cs-corrected HRTEM) is reviewed by focusing on its application to nano-materials. Basis of the HRTEM imaging and new scientific advantage of Cs-corrected TEM are summarized, and recent applications of the method to high resolution imaging and selected area electron diffraction of nano-materials and interfaces are described as well as explaining its characteristic and the future prospects.
- 日本真空協会の論文
- 2008-11-20
著者
-
山崎 順
名大エコトピア研
-
田中 信夫
名大エコトピア研
-
田中 信夫
名古屋大学
-
斎藤 晃
名古屋大学エコトピア科学研究所
-
山崎 順
名古屋大学エコトピア科学研究機構工学研究科
-
山崎 順
名古屋大学エコトピア科学研究所
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