高分解能電子顕微鏡像の計算機シミュレーションの標準化-1 -マルチスライス法による回折振幅の計算-
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 日本電子顕微鏡学会の論文
- 1994-11-30
著者
-
進藤 大輔
東北大学多元物質科学研究所
-
田中 信夫
名古屋大学
-
桑野 範之
九州大学
-
堀内 繁雄
無機材質研究所
-
進藤 大輔
東北大学 多元物質科学研究所
-
桑野 範之
九州大学先端科学技術共同研究センター
-
石塚 和夫
新技術事業団
-
遠藤 久満
京都工芸繊維大学
-
堀内 繁雄
三菱ガス科学(株)総合研究所
-
遠藤 久満
京都工芸繊維大学工芸学部
関連論文
- 21aHS-7 HOLZ線のロッキングカーブプロファイルをもちいた3次元格子歪み分布解析II(21aHS X線・粒子(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- ローレンツ顕微鏡法による電磁鋼板の動的磁区構造観察
- 21aHS-8 電子回折顕微法の再生結果に及ぼす量子ノイズの影響(21aHS X線・粒子(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- 特集「電子顕微鏡法による材料開発のための微細構造研究最前線(6)の企画にあたって
- 26aYK-2 収差補正TEMによる3C-SiC/Si(100)界面の原子配列精密解析(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 27pRE-9 収差補正TEM/STEMを用いたLa_2O_3/Si界面ラフネスの精密解析(27pRE X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 透過電子顕微鏡その場観察法を用いた光触媒材料の研究
- 透過電子顕微鏡法によるSm-Fe-N系磁性粒子の微細組織と磁区構造解析
- 遍歴電子メタ磁性体La(Fe_Si_)_の1次磁気相転移の動的観察
- TEM用二探針ピエゾ駆動ホルダを利用した構造・電磁場・伝導性のマルチ解析 (電顕内でのその場ナノ物性計測)
- 2探針ピエゾ駆動ホルダーの開発とTEMによる多元的材料評価の試み
- 二探針ピエゾ駆動ホルダーを用いた導電性接着剤中の金属微粒子の電気的評価
- エレクトロニクス分野の導電性接着剤技術の動向(電子部品・実装技術基礎講座「続・導電性接着剤」第7回 最終回)
- ローレンツ顕微鏡
- カーボンナノチューブ修飾電極における電気化学的パラメータの再現性(1)
- 20pRB-3 電子線ホログラフィによる格子欠陥近傍の磁化分布解析(20pRB 領域10シンポジウム:TEMによる最先端局所構造解析,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- TEM用二探針ピエゾ駆動ホルダの開発
- 透過電子顕微鏡による先端材料評価 (特集 複雑な物質・材料解析への新たなアプローチ)
- 磁場配向カーボンナノチューブ修飾電極の作製
- 電子線ホログラフィー
- エネルギーフィルターTEMによる低合金鋼中の微小析出物TiNの可視化(分析技術と方法論の最近の進歩)
- 透過電子顕微鏡を用いた強磁性形状記憶合金のドメイン解析 (特集 磁場誘起形巨大歪み材料の新展開と磁気応用)
- 交流磁場印加による電磁鋼板中の磁壁挙動のローレンツ顕微鏡観察
- Cu-Mn-Ga系強磁性合金の相変態と磁気特性
- 高分解能電子顕微鏡像の計算機シミュレーションの標準化-1 -マルチスライス法による回折振幅の計算-
- 25aYH-3 HRTEMおよびHAADF-STEMによるβ-FeSi_2ナノドットの微細構造評価(25aYH 表面界面構造,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 23pTC-12 球面収差補正TEM・ナノ電子回折を用いた金属ガラスの局所構造解析(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- Csコレクター電顕による金属ガラスの局所構造観察
- 特集「顕微鏡法による材料開発のための微細構造研究最前線(9)」 : -先端顕微鏡法開発がもたらす材料科学の新たな展開-企画にあたって
- 特集「先端試料作製技法と分析電子顕微鏡法による材料評価」によせて
- 19aXC-8 グラファイトK殼励起をともなう電子線非弾性散乱強度の3次元分布観察(X線・粒子線(電子線),領域10,誘導体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 蒸着テープの微細構造と成長機構 : Co c軸分布集中のメカニズム(記録媒体及び一般)
- 蒸着テープのCoO下地層と磁性層界面の構造(磁気記録)
- 蒸着テープのCoO下地層と磁性層界面の構造
- 電子線回折によるCo-CoO蒸着テープの結晶磁気異方性の評価
- 特集「顕微鏡法による材料開発のための微細構造研究最前線(7)-3D/4Dイメージング-」特集企画にあたって
- 3次元電子顕微鏡の開発
- シリコン結晶中の金単原子のHAADF-STEM像コントラスト計算
- 25p-Q-7 半導体界面の極微小電子回折 : 組成変化および歪の新しい検出法
- FePtナノ微粒子の規則化とサイズ効果
- 収束電子回折法によるAl_Ni_Co_8デカゴナル準結晶の構造精密化
- 28pYK-7 収束電子回折法によるAl_Ni_Co_8デカゴナル準結晶の構造精密化IV(28pYK 準結晶,領域6(金属,超低温,超伝導・密度波))
- 21pYJ-4 収束電子回折法によるAl_Ni_Co_8デカゴナル準結晶の構造精密化III(21pYJ 準結晶/液体金属,領域6(金属,超低温,超伝導・密度波))
- 23pWA-12 収束電子回折法によるAl_Ni_Co_8デカゴナル準結晶の構造精密化II(準結晶,領域6,金属,超低温,超伝導・密度波)
- 垂直磁気記録用ヘッド記録磁極先端の微細磁区構造と磁束分布(ヘッド・媒体および一般)
- 垂直磁気記録用ヘッド記録磁極先端の微細磁区構造と磁束分布(ヘッド・媒体及び一般)
- 2探針ピエゾ駆動ホルダーを活用した局所領域の精密抵抗測定
- 23pTC-9 極薄Si酸化膜を用いたSi(001)表面上のGeナノドットの微細構造および組成の評価(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 球面収差補正高分解能TEMによるInGaAs量子ドットの局所歪状態の観察
- 回折顕微法による原子配列構造の可視化 : 制限視野回折図形からのSiダンベル構造再生
- 透過電子顕微鏡を利用した光機能界面の高空間分解能その場観察
- 26aYK-11 MgB_2のB-K殼励起をともなう電子線非弾性散乱の異方性の観察(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 26aYK-8 HOLZ線のロッキングカーブプロファイルをもちいた3次元格子歪み分布解析(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 透過電子顕微鏡(TEM)
- 27pRE-11 収差補正STEMを用いた非晶質カーボン膜中白金原子の運動の観察(27pRE X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 27pRE-10 収差補正TEM像における焦点基準位置の検討(27pRE X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 27pRE-4 電子回折顕微法によるサブオングストローム分解能観察の可能性(27pRE X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 27pRE-3 収差補正収束電子プローブをもちいた菊池図形のプローブ位置依存性の観察(27pRE X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 27pRE-2 HOLZ線図形の多点自動解析による二次元歪みマッピング(27pRE X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- イオン液体を用いた酸化チタン上のAu光電析過程の研究
- 球面収差補正高分解能電子顕微鏡のナノ材料観察への応用
- UHV in-situとC_s-corrected HRTEMによる極薄Si酸化膜上でのGeナノドットの核形成・成長,および微細構造の評価(結晶評価技術の新展開)
- 21pTG-5 Si(111)表面上に形成されたGeナノドットの表面構造の評価(表面界面構造,領域9,表面・界面,結晶成長)
- 19aXC-10 極薄Si酸化膜上でのGeナノドットの核形成・成長に関する研究(X線・粒子線(電子線),領域10,誘導体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 19pXC-8 収差補正STEM/TEMによる半導体ナノ構造体の研究 : 量子ドット・クラスター・単原子(シンポジウム 最新電子顕微鏡法を使った物性研究のいぶき,領域10,誘導体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 26pYC-4 Si基板上Geナノドット成長中における表面構造のreal-time HRTEM観察(26pYC 表面界面ダイナミクス,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 電子線ホログラフィーを用いたNi_Fe_Ga_強磁性形状記憶合金の磁区構造評価
- 電子線ホログラフィーによるHDD用磁気ヘッドの観察
- 27pYA-5 電子チャネリング理論による高分解能電顕像のイメージデコンボリューション処理の基礎づけ
- 28p-XJ-12 X線リートベルド法とHAADF-STEMを用いたAl-Cu-Fe近似準結晶の構造解析
- Transmission Electron Microscopy Study on Microstructure of Ag-Based Conductive Adhesives
- 26aYF-6 酸化物高温超伝導体Bi_2Sr_2CaCu_2O_8のCu-L殻励起をともなう異方的非弾性散乱図形の観察(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 26aYF-7 球面収差補正制限視野ナノ回折法を用いた入射波動場及び可干渉度の測定(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 26aYF-9 分裂したHOLZ線を含むCBED図形の解析による格子歪み計測法の研究(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 電子線トモグラフィーによる酸化チタン光触媒材料の反応表面の研究
- 23pTC-3 収束電子回折法をもちいた局所圧力下の歪み分布解析(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 23pTC-11 差し引き法による強位相物体の球面収差補正HRTEM像の理論(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 23pTC-13 制限視野ナノ電子回折法を用いた回折顕微法(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 電子線ホログラフィーによるNd-Fe-B系ナノコンポジット磁石の磁区構造解析
- 電子線ホログラフィーによるNi-Znフェライトの磁束変化の観察
- 透過電子顕微鏡と微小プローブによる高密度圧粉磁心 (HDMC) の微細構造評価
- 電子線ホログラフィーによる局所磁化分布のイメージング
- マンガン酸化物La_Sr_MnO_3の磁気微細構造の温度・磁場依存性
- Co-CoO斜方蒸着テープの微細構造
- 電子線ホログラフィーによる Nd-Fe-B 永久磁石の磁区構造評価
- 電子線ホログラフィーによるナノグラニュラーCo-Zr-O薄膜の磁区構造評価
- ナノエリア解析システムによるメカノケミカル処理を施した廃蛍光材の構造評価
- 電子線ホログラフィーによるSm-Co永久磁石の磁化分布の観察
- 集束イオンビーム法と電子線ホログラフィーを用いたFe-Co-Cu-Nb-Si-Bナノ結晶磁性材料の磁区構造評価
- 透過電子顕微鏡を用いた構造・電磁場・伝導性の多元的解析 (特集 地域と世界に貢献する東北大学多元物質科学研究所)
- 透過電子顕微鏡を用いた局所領域の磁性評価
- カーボンナノチユーブ修飾電極における電気化学的パラメータの再現性(2)
- 透過電子顕微鏡を用いた局所領域の磁性評価
- 透過電子顕微鏡 : 3. 電場・磁場可視化機能
- 磁性微粒子の電子線ホログラフィー
- 電子線ホログラフィーとローレンツ顕微鏡法によるFePt (001) 薄膜の磁区構造観察
- 電子線ホログラフィーによる磁性材料の研究
- 電子線ホログラフィーによるナノ結晶磁性材料の磁区構造評価
- エレクトロニクス分野の導電性接着剤技術の動向
- 「材料科学の課題と展望-ナノマテリアル・環境材料を中心として-」の発行にあたって