球面収差補正による高分解能電子顕微鏡法の分解能向上
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概要
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Recent development of spherical aberration correction in high-resolution electron microscopy (<I>C<SUB>s</SUB></I>-corrected HREM) is reviewed by focusing on TEM instruments. Basis of the the previous HRTEM and new scientific elements for <I>C<SUB>s</SUB></I>-corrected one are summarized, and recent applications of the method to nano materials and interfaces are described through explaining its characteristic and the future prospects.
- 日本結晶学会の論文
- 2005-02-24
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