コヒアレントナノビ-ム電子回折とその多層膜への応用
スポンサーリンク
概要
著者
関連論文
- 21aHS-7 HOLZ線のロッキングカーブプロファイルをもちいた3次元格子歪み分布解析II(21aHS X線・粒子(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- 21aHS-8 電子回折顕微法の再生結果に及ぼす量子ノイズの影響(21aHS X線・粒子(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- 特集「電子顕微鏡法による材料開発のための微細構造研究最前線(6)の企画にあたって
- 26aYK-2 収差補正TEMによる3C-SiC/Si(100)界面の原子配列精密解析(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 19aPS-65 透過型電子顕微鏡及び放射光X線回折法によるC型反強磁性マンガン酸化物の結晶構造解析(19aPS 領域8ポスターセッション(低温),領域8(強相関系:高温超伝導,強相関f電子系など))
- 27pRE-9 収差補正TEM/STEMを用いたLa_2O_3/Si界面ラフネスの精密解析(27pRE X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 透過電子顕微鏡その場観察法を用いた光触媒材料の研究
- 高分解能電子顕微鏡像の計算機シミュレーションの標準化-1 -マルチスライス法による回折振幅の計算-
- 25aYH-3 HRTEMおよびHAADF-STEMによるβ-FeSi_2ナノドットの微細構造評価(25aYH 表面界面構造,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 23pTC-12 球面収差補正TEM・ナノ電子回折を用いた金属ガラスの局所構造解析(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- Csコレクター電顕による金属ガラスの局所構造観察
- 特集「顕微鏡法による材料開発のための微細構造研究最前線(9)」 : -先端顕微鏡法開発がもたらす材料科学の新たな展開-企画にあたって
- 19aXC-8 グラファイトK殼励起をともなう電子線非弾性散乱強度の3次元分布観察(X線・粒子線(電子線),領域10,誘導体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 特集「顕微鏡法による材料開発のための微細構造研究最前線(7)-3D/4Dイメージング-」特集企画にあたって
- 3次元電子顕微鏡の開発
- シリコン結晶中の金単原子のHAADF-STEM像コントラスト計算
- 25p-Q-7 半導体界面の極微小電子回折 : 組成変化および歪の新しい検出法
- 収束電子回折法によるAl_Ni_Co_8デカゴナル準結晶の構造精密化
- 28pYK-7 収束電子回折法によるAl_Ni_Co_8デカゴナル準結晶の構造精密化IV(28pYK 準結晶,領域6(金属,超低温,超伝導・密度波))
- 21pYJ-4 収束電子回折法によるAl_Ni_Co_8デカゴナル準結晶の構造精密化III(21pYJ 準結晶/液体金属,領域6(金属,超低温,超伝導・密度波))
- 23pWA-12 収束電子回折法によるAl_Ni_Co_8デカゴナル準結晶の構造精密化II(準結晶,領域6,金属,超低温,超伝導・密度波)
- 23pTC-9 極薄Si酸化膜を用いたSi(001)表面上のGeナノドットの微細構造および組成の評価(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 球面収差補正高分解能TEMによるInGaAs量子ドットの局所歪状態の観察
- 回折顕微法による原子配列構造の可視化 : 制限視野回折図形からのSiダンベル構造再生
- 透過電子顕微鏡を利用した光機能界面の高空間分解能その場観察
- 26aYK-11 MgB_2のB-K殼励起をともなう電子線非弾性散乱の異方性の観察(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 26aYK-8 HOLZ線のロッキングカーブプロファイルをもちいた3次元格子歪み分布解析(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 透過電子顕微鏡(TEM)
- 27pRE-11 収差補正STEMを用いた非晶質カーボン膜中白金原子の運動の観察(27pRE X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 27pRE-10 収差補正TEM像における焦点基準位置の検討(27pRE X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 27pRE-4 電子回折顕微法によるサブオングストローム分解能観察の可能性(27pRE X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 27pRE-3 収差補正収束電子プローブをもちいた菊池図形のプローブ位置依存性の観察(27pRE X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 27pRE-2 HOLZ線図形の多点自動解析による二次元歪みマッピング(27pRE X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- イオン液体を用いた酸化チタン上のAu光電析過程の研究
- 球面収差補正高分解能電子顕微鏡のナノ材料観察への応用
- UHV in-situとC_s-corrected HRTEMによる極薄Si酸化膜上でのGeナノドットの核形成・成長,および微細構造の評価(結晶評価技術の新展開)
- 21pTG-5 Si(111)表面上に形成されたGeナノドットの表面構造の評価(表面界面構造,領域9,表面・界面,結晶成長)
- 19aXC-10 極薄Si酸化膜上でのGeナノドットの核形成・成長に関する研究(X線・粒子線(電子線),領域10,誘導体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 19pXC-8 収差補正STEM/TEMによる半導体ナノ構造体の研究 : 量子ドット・クラスター・単原子(シンポジウム 最新電子顕微鏡法を使った物性研究のいぶき,領域10,誘導体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 26pYC-4 Si基板上Geナノドット成長中における表面構造のreal-time HRTEM観察(26pYC 表面界面ダイナミクス,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 27pYA-5 電子チャネリング理論による高分解能電顕像のイメージデコンボリューション処理の基礎づけ
- 28p-XJ-12 X線リートベルド法とHAADF-STEMを用いたAl-Cu-Fe近似準結晶の構造解析
- 26aYF-6 酸化物高温超伝導体Bi_2Sr_2CaCu_2O_8のCu-L殻励起をともなう異方的非弾性散乱図形の観察(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 26aYF-7 球面収差補正制限視野ナノ回折法を用いた入射波動場及び可干渉度の測定(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 26aYF-9 分裂したHOLZ線を含むCBED図形の解析による格子歪み計測法の研究(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 電子線トモグラフィーによる酸化チタン光触媒材料の反応表面の研究
- 23pTC-3 収束電子回折法をもちいた局所圧力下の歪み分布解析(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 23pTC-11 差し引き法による強位相物体の球面収差補正HRTEM像の理論(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 23pTC-13 制限視野ナノ電子回折法を用いた回折顕微法(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- ピエゾ駆動STMホルダーを用いたチタニアナノロッドの光伝導特性その場計測
- 球面収差補正STEMによるシリコン結晶中アンチモン原子の置換位置移動の直接観察
- 24aYK-11 球面収差補正STEMによるシリコン中ドーパント原子の運動の観察(24aYK X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- イオン液体を用いた光触媒反応の電子顕微鏡研究
- 特集企画にあたって
- 3C-SiC単結晶からのカーボンナノチューブ形成のその場観察
- 特集にあたって
- HAADF-STEM のレンズ伝達関数
- 走査系電顕におけるコントラスト伝達関数を用いたオートチューニング
- 24pXP-1 収束電子回折法によるAl_Ni_Co_8デカゴナル準結晶の構造精密化(準結晶,領域6,金属,超低温,超伝導・密度波)
- 19aXC-6 制限視野ナノ回折図形の照射系による影響(X線・粒子線(電子線),領域10,誘導体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- コヒアレントナノビ-ム電子回折とその多層膜への応用
- V. デバイス, デバイス材料 MgO単結晶膜中に成長したα-Feおよびγ-Feクラスターの構造と磁性
- 暗視野走査透過電子顕微鏡のコントラスト伝達関数
- 電子顕微鏡写真展「ミクロの世界」および電子顕微鏡教室を開催して
- 28a-ZB-8 真空蒸着法によって作製したMgOナノ結晶膜の構造 (II)
- 21aYM-9 球面収差補正制限視野ナノ回折法による半導体界面構造の解析(X線・粒子線(中性子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 金属/半導体界面反応の STEM による原子直視観察
- 20pRB-4 収差補正TEMによる結晶欠陥の観察(20pRB 領域10シンポジウム:TEMによる最先端局所構造解析,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 19aXC-9 白金1次元結晶鎖の収差補正TEM像と三次元観察の可能性(X線・粒子線(電子線),領域10,誘導体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 24aYK-10 単層炭素ナノチューブの球面収差補正高分解能電子顕微鏡像の深さ分解能(24aYK X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 球面収差補正TEM法の材料研究への応用
- 25pYS-7 球面収差補正電子顕微鏡における非線形コントラストの低減法(X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体, 格子欠陥, X線・粒子線, フォノン物性))
- 透過電子顕微鏡によるその場計測技術と超高分解能観察
- 部分的に規則化したNi_4Mo合金のHAADF-STEM観察
- 生体分子の極低加速電圧点投影電子顕微鏡法における試料損傷
- 24aYK-4 2次元角度分解EELSによるカーボン関連物質の電子構造の異方性の研究(24aYK X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 30p-YM-4 ZnOナノ結晶粒間常温接合過程の動的高分解能観察
- 時間分解型高分解能電子顕微鏡によるタングステン原子の表面拡散現象の動的観察
- 時間分解型高分解能電子顕微鏡によるナノ材料のダイナミクスの研究
- 電子エネルギー損失分光法を用いた局在電子構造の異方性の研究
- 孤立原子を見る
- 28aGAA-3 球面収差補正電子顕微鏡によるナノマテリアル3次元原子レベル構造解析(28aGAA 領域10,領域4合同シンポジウム:格子欠陥・ナノ構造の3次元実空間解析,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- 12a-DL-10 真空蒸着法により作製したZnOナノ結晶膜の成長と構造
- 29p-ZB-4 MgOナノ粒界の規則構造
- 27pTN-5 フォーク型回折格子をもちいた電子らせん波の生成と空間伝播の観察(27pTN X線・粒子線(陽電子・電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- 収差補正, 次への道を見つけよう
- 球面収差補正による高分解能電子顕微鏡法の分解能向上
- ナノビーム電子線を用いた極微構造解析イメージング(1)
- 金属-MgO単結晶複合膜の構造と物性
- 制限視野ナノ電子回折を用いた回折顕微法による原子分解能再構成
- エネルギーフィルター電子顕微鏡をもちいた結晶構造解析および電子軌道解析
- 21aJA-5 収差補正収束電子プローブをもちいた菊池図形のプローブ位置依存性の観察2(21aJA X線・粒子線(電子線・陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- 21pGE-3 球面収差補正電子顕微鏡によるナノマテリアル原子レベル構造解析(21pGE 領域10,領域4合同シンポジウム:格子欠陥・ナノ構造の3次元実空間解析,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- 「超高圧電子顕微鏡」のミニ特集を編むに際して
- 反応科学超高圧電子顕微鏡の開発
- 制限視野ナノ電子回折を用いた回折顕微法による原子分解能再構成
- 収差補正TEM/STEMの現状と今後の展望
- 30p-G-1 Ni-Al系金属化合物ナノ結晶薄膜の構造
- 3元同時スパッタリング法によるLa-Pt-Bi薄膜の作製
- 27aCL-7 電子回折顕微法を用いた電子波位相像観察(27aCL X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))