電子顕微鏡を用いたナノ計測金属科学 (特集:金属科学)

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概要

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• 日本学術振興会の論文

著者

• 田中 信夫

  名大エコトピア研

関連論文

• 21aHS-7 HOLZ線のロッキングカーブプロファイルをもちいた3次元格子歪み分布解析II(21aHS X線・粒子(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 21aHS-8 電子回折顕微法の再生結果に及ぼす量子ノイズの影響(21aHS X線・粒子(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 特集「電子顕微鏡法による材料開発のための微細構造研究最前線(6)の企画にあたって
• 26aYK-2 収差補正TEMによる3C-SiC/Si(100)界面の原子配列精密解析(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 27pRE-9 収差補正TEM/STEMを用いたLa_2O_3/Si界面ラフネスの精密解析(27pRE X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• 透過電子顕微鏡その場観察法を用いた光触媒材料の研究
• 25aYH-3 HRTEMおよびHAADF-STEMによるβ-FeSi_2ナノドットの微細構造評価(25aYH 表面界面構造,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 21aPS-71 極薄Si酸化膜上に成長したFe-Siナノドットの構造評価(II)(領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 15aPS-4 極薄 Si 酸化膜上に成長した Fe-Si ナノドットの構造評価(領域 9)
• 23pTC-12 球面収差補正TEM・ナノ電子回折を用いた金属ガラスの局所構造解析(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• Csコレクター電顕による金属ガラスの局所構造観察
• 特集「顕微鏡法による材料開発のための微細構造研究最前線(9)」 : -先端顕微鏡法開発がもたらす材料科学の新たな展開-企画にあたって
• 19aXC-8 グラファイトK殼励起をともなう電子線非弾性散乱強度の3次元分布観察(X線・粒子線(電子線),領域10,誘導体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 特集「顕微鏡法による材料開発のための微細構造研究最前線(7)-3D/4Dイメージング-」特集企画にあたって
• 収束電子回折法によるAl_Ni_Co_8デカゴナル準結晶の構造精密化
• 28pYK-7 収束電子回折法によるAl_Ni_Co_8デカゴナル準結晶の構造精密化IV(28pYK 準結晶,領域6(金属,超低温,超伝導・密度波))
• 21pYJ-4 収束電子回折法によるAl_Ni_Co_8デカゴナル準結晶の構造精密化III(21pYJ 準結晶/液体金属,領域6(金属,超低温,超伝導・密度波))
• 23pWA-12 収束電子回折法によるAl_Ni_Co_8デカゴナル準結晶の構造精密化II(準結晶,領域6,金属,超低温,超伝導・密度波)
• 23pTC-9 極薄Si酸化膜を用いたSi(001)表面上のGeナノドットの微細構造および組成の評価(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 回折顕微法による原子配列構造の可視化 : 制限視野回折図形からのSiダンベル構造再生
• 透過電子顕微鏡を利用した光機能界面の高空間分解能その場観察
• 26aYK-11 MgB_2のB-K殼励起をともなう電子線非弾性散乱の異方性の観察(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 26aYK-8 HOLZ線のロッキングカーブプロファイルをもちいた3次元格子歪み分布解析(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 透過電子顕微鏡(TEM)
• 27pRE-11 収差補正STEMを用いた非晶質カーボン膜中白金原子の運動の観察(27pRE X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• 27pRE-10 収差補正TEM像における焦点基準位置の検討(27pRE X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• 27pRE-4 電子回折顕微法によるサブオングストローム分解能観察の可能性(27pRE X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• 27pRE-3 収差補正収束電子プローブをもちいた菊池図形のプローブ位置依存性の観察(27pRE X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• 27pRE-2 HOLZ線図形の多点自動解析による二次元歪みマッピング(27pRE X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• イオン液体を用いた酸化チタン上のAu光電析過程の研究
• 球面収差補正高分解能電子顕微鏡のナノ材料観察への応用
• UHV in-situとC_s-corrected HRTEMによる極薄Si酸化膜上でのGeナノドットの核形成・成長,および微細構造の評価(結晶評価技術の新展開)
• 21pTG-5 Si(111)表面上に形成されたGeナノドットの表面構造の評価(表面界面構造,領域9,表面・界面,結晶成長)
• 19aXC-10 極薄Si酸化膜上でのGeナノドットの核形成・成長に関する研究(X線・粒子線(電子線),領域10,誘導体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 19pXC-8 収差補正STEM/TEMによる半導体ナノ構造体の研究 : 量子ドット・クラスター・単原子(シンポジウム 最新電子顕微鏡法を使った物性研究のいぶき,領域10,誘導体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 26pYC-4 Si基板上Geナノドット成長中における表面構造のreal-time HRTEM観察(26pYC 表面界面ダイナミクス,領域9(表面・界面,結晶成長))
• 20pXA-6 UHV-TEMによる極薄Si酸化膜を用いたSi(111)表面上でのGeナノドット形成過程の評価(II)(表面・界面ダイナミクス(半導体表面・実験),領域9(表面・界面,結晶成長))
• 26pXD-2 極薄Si酸化膜を用いたSi(111)表面上でのGeナノドット形成過程のUHV-TEMその場観察(表面・界面ダイナミクス,領域9(表面・界面, 結晶成長))
• 26aYF-6 酸化物高温超伝導体Bi_2Sr_2CaCu_2O_8のCu-L殻励起をともなう異方的非弾性散乱図形の観察(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 26aYF-7 球面収差補正制限視野ナノ回折法を用いた入射波動場及び可干渉度の測定(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 26aYF-9 分裂したHOLZ線を含むCBED図形の解析による格子歪み計測法の研究(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 電子線トモグラフィーによる酸化チタン光触媒材料の反応表面の研究
• 23pTC-3 収束電子回折法をもちいた局所圧力下の歪み分布解析(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 23pTC-11 差し引き法による強位相物体の球面収差補正HRTEM像の理論(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 23pTC-13 制限視野ナノ電子回折法を用いた回折顕微法(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• ピエゾ駆動STMホルダーを用いたチタニアナノロッドの光伝導特性その場計測
• 球面収差補正STEMによるシリコン結晶中アンチモン原子の置換位置移動の直接観察
• 24aYK-11 球面収差補正STEMによるシリコン中ドーパント原子の運動の観察(24aYK X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• イオン液体を用いた光触媒反応の電子顕微鏡研究
• 24pXP-1 収束電子回折法によるAl_Ni_Co_8デカゴナル準結晶の構造精密化(準結晶,領域6,金属,超低温,超伝導・密度波)
• 19aXC-6 制限視野ナノ回折図形の照射系による影響(X線・粒子線(電子線),領域10,誘導体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 21aYM-9 球面収差補正制限視野ナノ回折法による半導体界面構造の解析(X線・粒子線(中性子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• 20pRB-4 収差補正TEMによる結晶欠陥の観察(20pRB 領域10シンポジウム:TEMによる最先端局所構造解析,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• 高分解能電子顕微鏡法の基礎と収差補正 (特集 最先端の電子顕微鏡技術と応用展開)
• 19aXC-9 白金1次元結晶鎖の収差補正TEM像と三次元観察の可能性(X線・粒子線(電子線),領域10,誘導体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 24aYK-10 単層炭素ナノチューブの球面収差補正高分解能電子顕微鏡像の深さ分解能(24aYK X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• 球面収差補正TEM法の材料研究への応用
• 28pYA-10 球面収差補正TEMによるイオン価数観測の可能性(28pYA X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• 25pYS-8 球面収差補正高分解能TEMによる炭素ナノチューブの原子構造の直接観察(X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体, 格子欠陥, X線・粒子線, フォノン物性))
• 25pYS-7 球面収差補正電子顕微鏡における非線形コントラストの低減法(X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体, 格子欠陥, X線・粒子線, フォノン物性))
• 24aYK-4 2次元角度分解EELSによるカーボン関連物質の電子構造の異方性の研究(24aYK X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• 28aXE-7 Al-Ni-Coデカゴナル準結晶の球面収差補正高分解能TEM観察II(28aXE 準結晶(理論,構造,物性(Al系)),領域6(金属,超低温,超伝導・密度波))
• 電子顕微鏡を用いたナノ計測金属科学 (特集:金属科学)
• 28aGAA-3 球面収差補正電子顕微鏡によるナノマテリアル3次元原子レベル構造解析(28aGAA 領域10,領域4合同シンポジウム:格子欠陥・ナノ構造の3次元実空間解析,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 27pTN-5 フォーク型回折格子をもちいた電子らせん波の生成と空間伝播の観察(27pTN X線・粒子線(陽電子・電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 21aYM-8 ホローコーンビームHAADF-STEMによる格子間原子検出の可能性II(X線・粒子線(中性子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• 20pYK-14 Al-Ni-Coデカゴナル準結晶の球面収差補正高分解能TEM観察(準結晶(理論,構造),領域6(金属,超低温,超伝導・密度波))
• 25pYS-1 ホローコーンビームHAADF-STEMによる格子間原子検出の可能性(X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体, 格子欠陥, X線・粒子線, フォノン物性))
• 収差補正, 次への道を見つけよう
• 球面収差補正による高分解能電子顕微鏡法の分解能向上
• 21aJA-5 収差補正収束電子プローブをもちいた菊池図形のプローブ位置依存性の観察2(21aJA X線・粒子線(電子線・陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 21pGE-3 球面収差補正電子顕微鏡によるナノマテリアル原子レベル構造解析(21pGE 領域10,領域4合同シンポジウム:格子欠陥・ナノ構造の3次元実空間解析,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 「超高圧電子顕微鏡」のミニ特集を編むに際して
• 反応科学超高圧電子顕微鏡の開発
• 制限視野ナノ電子回折を用いた回折顕微法による原子分解能再構成
• 収差補正TEM/STEMの現状と今後の展望
• 27aGF-9 収束電子回折およびHAADF-STEMをもちいたAl-Ni-Ruデカゴナル準結晶の構造解析(27aGF 準結晶,領域6(金属,超低温,超伝導・密度波))
• 27aCL-6 電子らせん波の相互干渉による位相観察(27aCL X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 27aCL-5 スパイラルゾーンプレートによる電子らせん波の生成(27aCL X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 20pFG-6 収束電子回折法をもちいたNd_Sr_MnO_3の空間群決定(20pFG Mn酸化物・Mn化合物(電荷秩序・軌道秩序・スカーミオンなど),領域8(強相関系:高温超伝導強相関f電子系など))
• 21aAG-6 2つの位相特異点を有する電子らせん波の生成(21aAG X線・粒子線(電子線・陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 29aXZB-1 フォーク型回折格子による電子らせん波の角運動量移送の観察(29aXZB 領域10,ビーム物理領域合同 X線・粒子線(電子線・陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 29aXZB-1 フォーク型回折格子による電子らせん波の角運動量移送の観察(29aXZB 領域10,ビーム物理領域合同 X線・粒子線(電子線・陽電子),ビーム物理領域)

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