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日本結晶学会 | 論文
- 産業界で活躍する結晶学(4)In-situ X線回折測定による構造変化の定量解析と材料開発への応用
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- 繊維工業と結晶学
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- 高分解能走査透過型電子顕微鏡とその生物分子観察への応用 (高分解能電子顕微鏡法の最近の進歩)
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- 電子回折の二次反射消滅効果の利用 (結晶構造因子の精密測定と電子分布(特集))
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- TEM-EXELFS法の特徴とその応用の現状と展望
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