山崎 順 | 名大エコ研
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概要
関連著者
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山崎 順
名大エコ研
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田中 信夫
名大エコ研
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山崎 順
名大エコトピア研
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田中 信夫
名大エコトピア研
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田中 信夫
名古屋大学
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森下 茂幸
名大院工
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加藤 丈晴
ファインセラミックスセンター
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加藤 丈晴
(財)ファインセラミックスセンター ナノ構造研究所
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加藤 丈晴
JFCC
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稲元 伸
名大院工
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中村 圭介
名大院工
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田中 信夫
名古屋大学エコトピア科学研究所
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玉置 央和
名大院工
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奥西 栄治
日本電子(株)
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奥西 栄治
日本電子:jst-crest
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長谷川 正
名大院工
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弘津 禎彦
阪大産研
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弘津 禎彦
大阪大学産業科学研究所
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平田 秋彦
大阪大学産業科学研究所
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角嶋 邦之
東工大総理工
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岩井 洋
東工大フロンティア研
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弘津 禎彦
長岡技科大
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平田 秋彦
阪大産研
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市川 昌和
東大工
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趙 星彪
CREST-JST
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市川 昌和
CREST-JST
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田中 信夫
CREST-JST
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岩井 洋
東京工業大学フロンティア創造共同研究センター
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加藤 秀美
東北大金研
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弘津 禎彦
大阪大学産業科学研究所高次制御材料科学研究部門材料機能物性研究分野
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Shklyaev Alexander
CREST-JST
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市川 昌和
東京大学大学院工学系研究科物理工学専攻
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黒島 光
名大院工
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趙 星彪
名大エコ研
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岩井 洋
東京工業大学フロンティア研究機構
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秋山 賢輔
神奈川県産業技術センター
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岩井 洋
(株)東芝研究開発センターulsi研究所
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奥西 栄治
日本電子
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武藤 道洋
名大院工
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平林 康男
神奈川県産技セ
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荒井 重勇
名大エコ研
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大田 繁正
日本電子
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石田 篤志
名大院工
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野村 優貴
名大院工
著作論文
- 21aHS-8 電子回折顕微法の再生結果に及ぼす量子ノイズの影響(21aHS X線・粒子(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- 26aYK-2 収差補正TEMによる3C-SiC/Si(100)界面の原子配列精密解析(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 27pRE-9 収差補正TEM/STEMを用いたLa_2O_3/Si界面ラフネスの精密解析(27pRE X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 23pTC-12 球面収差補正TEM・ナノ電子回折を用いた金属ガラスの局所構造解析(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 23pTC-9 極薄Si酸化膜を用いたSi(001)表面上のGeナノドットの微細構造および組成の評価(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 27pRE-11 収差補正STEMを用いた非晶質カーボン膜中白金原子の運動の観察(27pRE X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 27pRE-10 収差補正TEM像における焦点基準位置の検討(27pRE X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 27pRE-4 電子回折顕微法によるサブオングストローム分解能観察の可能性(27pRE X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 26aYF-7 球面収差補正制限視野ナノ回折法を用いた入射波動場及び可干渉度の測定(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 23pTC-13 制限視野ナノ電子回折法を用いた回折顕微法(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 19aXC-6 制限視野ナノ回折図形の照射系による影響(X線・粒子線(電子線),領域10,誘導体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 26aKE-6 TEM像の非線形強度減衰の定量評価とトモグラフィー再構成への影響(X線・粒子線(電子線・陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- 26pKA-10 収差補正HRTEMを用いた3C-SiC/Si(001)界面における積層欠陥の解析(格子欠陥・ナノ構造(半導体),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))