Shklyaev Alexander | CREST-JST

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概要

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• 山崎 順

  名大エコ研

• 山崎 順

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• 田中 信夫

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• 市川 昌和

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• Shklyaev Alexander

  CREST-JST

• 市川 昌和

  東京大学大学院工学系研究科物理工学専攻

• 趙 星彪

  名大エコ研

• 奥西 栄治

  日本電子:jst-crest

• 奥西 栄治

  日本電子

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著作論文

• 23pTC-9 極薄Si酸化膜を用いたSi(001)表面上のGeナノドットの微細構造および組成の評価(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)

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