國弘 和明 | 東工大理
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概要
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國弘 和明
東工大理
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国弘 和明
Nec
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大野 泰夫
徳島大学
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大野 泰夫
Nec光・超高周波デバイス研究所
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高橋 裕之
Nec
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國弘 和明
日本電気(株)
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國弘 和明
Nec光・超高周波デバイス研究所
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国弘 和明
東工大理
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大野 泰夫
NEC光・無線デバイス研究所
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高橋 裕之
Nec光・無線デバイス研究所
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国弘 和明
NEC光・無線デバイス研究所
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国弘 和明
日本電気(株)
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國弘 和明
日本電気株式会社システムipコア研究所
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國弘 和明
日本電気株式会社グリーンプラットフォーム研究所
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笠原 健資
NEC光・無線デバイス研究所
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葛原 正明
(財)新機能素子研究開発協会 先進高周波デバイスr&dセンター
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中山 達峰
財団法人新機能素子研究開発協会:日本電気株式会社ナノエレクトロニクス研究所
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羽山 信幸
NEC光・無線デバイス研究所
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羽山 信幸
Nec
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松永 高治
財団法人新機能素子研究開発協会:日本電気株式会社ナノエレクトロニクス研究所
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永井 泰樹
東工大理
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鳥山 保
東工大理
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吉田 敦
東工大理
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山之内 慎吾
日本電気(株)
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山之内 慎吾
Necデバイスプラットフォーム研究所
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山之内 慎吾
日本電気株式会社グリーンプラットフォーム研究所
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永井 泰樹
阪大RCNP
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鳥山 保
武蔵工大
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国弘 和明
NEC 光・超高周波デバイス研究所
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笠原 健資
NEC 光・超高周波デバイス研究所
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高橋 裕之
NEC 光・超高周波デバイス研究所
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大野 泰夫
NEC 光・超高周波デバイス研究所
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中山 達峰
NEC光・無線デバイス研究所
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葛原 正明
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NEC関西エレクトロニクス研究所
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理研
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日本電気(株)
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東大核研
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NEC光・無線デバイス研究所
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NECシステムデバイス研究所
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山之内 慎吾
NECシステムデバイス研究所
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平山 知央
NECエレクトロニクス(株)
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樋田 光
NECエレクトロニクス(株)
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松永 高治
日本電気株式会社ナノエレクトロニクス研究所
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高橋 清彦
Necデバイスプラットフォーム研究所
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樋田 光
Necエレクトロニクス
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国弘 和明
NEC光エレクトロニクス研究所
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松永 高治
日本電気株式会社システムipコア研究所
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國弘 和明
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田中 愼一
Necシステムデバイス研究所
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高エ研
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松永 高治
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原田 重信
東工大理
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鳥居 良成
東工大理
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核研
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田中 仁市
核研
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鳥居 良成
東京工大・理
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日本電気株式会社光・無線デバイス研究所
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羽山 信幸
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安藤 裕二
日本電気株式会社光・無線デバイス研究所
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日本電気株式会社光・無線デバイス研究所
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大野 泰夫
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日本電気株式会社光・無線デバイス研究所
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NECシステムデバイス・基礎研究本部光・無線デバイス研究所
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NECシステムデバイス・基礎研究本部光・無線デバイス研究所
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NECシステムデバイス・基礎研究本部光・無線デバイス研究所
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NECシステムデバイス・基礎研究本部光・無線デバイス研究所
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NEC関西エレクトロニクス研究所
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松永 高治
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NEC 関西エレクトロニクス研究所
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大久保 哲
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NECシステムデバイス研究所
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笹岡 千秋
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平山 知央
NECシステムデバイス研究所
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NEC マイクロエレクトロニクス研究所
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国弘 和明
NEC マイクロエレクトロニクス研究所
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大野 泰夫
NEC マイクロエレクトロニクス研究所
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田中 愼一
芝浦工業大学工学部
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山之内 慎吾
日本電気株式会社システムipコア研究所
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元井 桂一
日本電気株式会社システムipコア研究所
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国弘 和明
日本電気株式会社システムipコア研究所
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中山 達峰
日本電気株大会社光・無線デバイス研究所
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宮本 広信
日本電気株大会社光・無線デバイス研究所
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葛原 正明
日本電気株大会社光・無線デバイス研究所
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岡本 康宏
日本電気株大会社光・無線デバイス研究所
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安藤 裕二
日本電気株大会社光・無線デバイス研究所
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元井 桂一
日本電気株式会社グリーンプラットフォーム研究所
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森田 浩介
理研仁科セ
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大島 直樹
NEC
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酒井 英行
東大理
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野村 亨
KEK
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野村 亨
高工研
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森田 浩介
理研
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岡本 弘之
東大理
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藤井 正浩
Nec光・無線デバイス研究所
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藤井 正浩
Nec光・超高周波デバイス研究所
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埼玉大理
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NEC ULSIデバイス開発研究所
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松永 高治
NEC光・無線デバイス研究所
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葛原 正明
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葛原 正明
Nec
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理研
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理研
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和田 道治
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笠原 健資
NEC
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NEC
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安藤 裕二
NEC
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中山 達峰
NEC
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NEC
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羽山 信幸
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国弘 和明
NEC システムデバイス・基礎研究本部 光・無線デバイス研究所
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岡本 康宏
NEC システムデバイス・基礎研究本部 光・無線デバイス研究所
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笠原 健資
NEC システムデバイス・基礎研究本部 光・無線デバイス研究所
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中山 達峰
NEC システムデバイス・基礎研究本部 光・無線デバイス研究所
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大野 泰夫
NEC システムデバイス・基礎研究本部 光・無線デバイス研究所
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松永 高治
NEC システムデバイス・基礎研究本部 光・無線デバイス研究所
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宮本 広信
NEC システムデバイス・基礎研究本部 光・無線デバイス研究所
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安藤 裕二
NEC システムデバイス・基礎研究本部 光・無線デバイス研究所
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葛原 正明
NEC システムデバイス・基礎研究本部 光・無線デバイス研究所
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宮本 広信
NEC光・無線デバイス研究所
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安藤 裕二
NEC光・無線デバイス研究所
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松永 高治
関西エレクトロニクス研究所
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宮本 広信
関西エレクトロニクス研究所
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安藤 裕二
関西エレクトロニクス研究所
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葛原 正明
関西エレクトロニクス研究所
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深石 宗生
日本電気株式会社
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大野 泰夫
徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部
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大野 泰夫
NECマイクロエレクトロニクス研究所
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宮崎 孝
日本電気(株)
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岡本 康宏
NECナノエレクトロニクス研究所
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安藤 裕二
NECナノエレクトロニクス研究所
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宮本 広信
NECナノエレクトロニクス研究所
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葛原 正明
Nec 関西エレクトロニクス研
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稲村 卓
理研サイクロ
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高橋 裕之
NEC光エレクトロニクス研究所
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国弘 和明
NECマイクロエレクトロニクス研究所
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國弘 和明
NECデバイスプラットフォーム研究所
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樋田 光
NECシステムデバイス研究所
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堀 真一
日本電気株式会社システムipコア研究所
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狐塚 正樹
日本電気株式会社システムIPコア研究所
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大島 直樹
日本電気株式会社システムIPコア研究所
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深石 宗生
日本電気株式会社システムipコア研究所
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児玉 浩志
日本電気株式会社システムipコア研究所
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堀 真一
日本電気株式会社
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初川 雄一
東大核研
-
森田 浩介
理研サイクロ
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篠塚 勉
東北大サイクロRIセンター
著作論文
- 動的プリディストーション技術を用いたWCDMA用低歪電力増幅器(2008MTT-S Japan Chapter Young Engineer Award受賞講演)
- WCDMA用電力増幅器の低歪・高効率化回路技術 : 動的プリディストーションとポーラ変調技術(移動通信ワークショップ)
- 30p-PS-19 理研気体充填型質量分析器(GARIS)の性能に関するモンテカルロ・シミュレーション
- 30p-PS-6 Heジェット系の製作
- 30a-W-5 ^Ca遅発陽子放出の測定
- 30a-W-2 (a^^→,^2He)反応を用いた"Be励起状態
- 5a-C-10 ^Cの超許容フェルミベータ崩壊
- 5a-C-8 ^Bi γ線相対強度の精密測定
- AlGaN/GaN HJFET における低抵抗コンタクト形成とK帯高出力特性
- AlGaN/GaNヘテロ接合FETのマイクロ波高出力特性
- 薄層サファイヤ基板上AlGaN/GaN HJFETの特性
- SC-7-11 AlGaN/GaNヘテロ接合FETのマイクロ波特性
- Sic基板上AlGaN/GaN HJFETのL帯パワー特性
- AlGaN/GaN HJFETのL帯パワー特性
- n-AlGaN/GaNにおける低温アニールTi/Alオーミックコンタクト
- SC-5-6 準ミリ波帯0.3μmマルチゲートフィンガーAlGaN/GaN HJFET
- C-10-20 AlGaN/GaN HJFETのマイクロ波電力特性
- [招待論文]マイクロ波帯高出力AlGaN/GaN HJFET
- 高出力GaAs MESFETの2端子破壊機構の解明とpバッファ層による耐圧向上
- C-2-22 WCDMA携帯端末用エンベロープトラッキング方式電力増幅器(C-2.マイクロ波A(マイクロ波・ミリ波能動デバイス),一般セッション)
- AlGaN/GaN HJFETの作製と評価
- HJFETのドレインラグとGaAsデジタルICのマーク率効果との相関
- CS-3-2 動的プリディストーション技術を用いたWCDMA用低歪電力増幅器(CS-3.マイクロ波トランジスタ高出力増幅器の現状と今後の展開,シンポジウム)
- AlGaN/GaN HJFETのL帯パワー特性
- AlGaN/GaN HJFETのL帯パワー特性
- n-AlGaN/GaNにおける低温アニールTi/Alオーミックコンタクト
- [招待論文]マイクロ波帯高出力AlGaN/GaN HJFET
- [招待論文]マイクロ波帯高出力AlGaN/GaN HJFET
- 高出力GaAs MESFETの2端子破壊機構の解明とpバッファ層による耐圧向上
- 高出力GaAs MESFETの2端子破壊機構の解明とpバッファ層による耐圧向上
- AlGaN/GaN HJFETの作製と評価
- 周期バイアス用デバイスシミュレータを用いたGaAs MESFET大信号動作時の解析
- 周期バイアス用デバイスシミュレータを用いたGaAs MESFET大信号動作時の解析
- AlGaN/GaNヘテロ接合FETのマイクロ波高出力特性
- 薄層サファイヤ基板上AlGaN/GaN HJFETの特性
- GaAsパワーFETにおけるドレイン耐圧変動機構の解明
- 周期バイアス用デバイスシミュレータを用いたGaAs MESFET大信号動作時の解析
- 周期バイアス用デバイスシミュレータを用いたGaAs MESFET大信号動作時の解析
- 埋め込みp層による高出力GaAs MESFETの2端子耐圧の向上
- 周期バイアス用デバイスシミュレータによるGaAs HJFETマーク率効果の解析
- 周期バイアス用デバイスシミュレータによるGaAs HJFETマーク率効果の解析
- 周期バイアス用デバイスシミュレータによるGaAs HJFETマーク率効果の解析
- 周期バイアス用デバイスシミュレータによるGaAs HJFETマーク率効果の解析
- HJFETカスコード接続による基板トラップ効果の低減
- GaAs MESFETにおける基板トラップ効果に対する埋め込みp層の影響
- HJFET埋め込みp層におけるドレインラグのシミュレーション
- p層バッファによるドレインラグ現象のシールド効果
- ホールトラップ型基板におけるHJFETドレインラグ現象の解析
- HJFETにおけるドレインラグ現象の大信号等価回路モデル
- C-2-17 WCDMA向けポーラ変調型電力増幅器(C-2.マイクロ波A(マイクロ波・ミリ波能動デバイス),エレクトロニクス1,一般講演,2006年電子情報通信学会エレクトロニクスソサイエティ大会)
- C-2-22 100W級S帯向けF級GaN FET電力増幅器(C-2.マイクロ波A(マイクロ波・ミリ波能動デバイス),一般セッション)
- C-12-69 ダイナミックレンジスケーラブル電力検出器を備えたコグニティブ無線用広帯域受信IC(C-12.集積回路,一般セッション)
- C-2-25 寄生補償高調波共振回路を適用したS帯逆F級GaN電力増幅器(C-2.マイクロ波A(マイクロ波・ミリ波能動デバイス),一般セッション)
- 28p-SA-2 理研ISOLのオンライン試験(28p SA 原子核実験(測定器),原子核実験)