木村 睦 | 龍谷大学電子情報学科
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概要
関連著者
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木村 睦
龍谷大学電子情報学科
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井上 聡
セイコーエプソン株式会社フロンティアデバイス研究所
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下田 達也
Center For Nano Materials And Technology Japan Advanced Institute Of Science And Technology
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Inoue S
Seiko Epson Corporation
-
SHIMODA Tatsuya
Seiko Epson Corporation
-
Shimoda Tatsuya[
Base Technology Research Center Seiko Epson Corporation
-
下田 達也
Seiko Epson Corporation
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木村 睦
Department Of Electronics And Informatics Ryukoku University
-
Kimura Mutsumi
Ryukoku University:innovative Materials And Processing Research Center
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木村 睦
龍谷大学 理工学部 電子情報学科
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井上 聡
セイコーエプソン(株)フロンティアデバイス研究所
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KIMURA Mutsumi
Ryukoku University
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Kimura M
Department Of Electrical Engineering Kure National College Of Technology
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Kimura Mutsumi
Ryukoku Univ. Otsu‐shi Jpn
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INOUE Satoshi
Base Technology Research Center, Seiko Epson Corp.
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KIMURA Mutsumi
Base Technology Research Center, Seiko Epson Corporation
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SHIMODA Tatsuya
Base Technology Research Center, Seiko Epson Corp.
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木村 睦
セイコーエプソン(株)基盤技術研究所
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木村 睦
セイコーエプソン 基盤技研
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Shimoda Tatsuya
Seiko Epson Corp. Nagano Jpn
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Shimoda Tatsuya
Base Technology Research Center Seiko Epson Corporation
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Kimura Mutsumi
Base Technology Research Center Seiko Epson Corporation
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下田 達也
セイコーエプソン 基盤技術研究所
-
下田 達也
セイコーエフ゜ソン株式会社 Tprc 第四研究ク゛ルーフ゜
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Nozawa Ryoichi
Base Technology Research Center Seiko Epson Corporation
-
原 弘幸
セイコーエプソン株式会社フロンティアデバイス研究所
-
INOUE Satoshi
Seiko Epson Corporation
-
野澤 陵一
セイコーエプソン株式会社OLED技術開発部
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Inoue S
Frontier Device Research Center Seiko Epson Corporation
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Izumi S
Division Of Oral Cytology And Cell Biology Nagasaki University Graduate School Of Biomedical Science
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加藤 正和
龍谷大学 電子情報学科
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KIMURA Mutsumi
Department of Electronics and Informatics, Ryukoku University
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INOUE Satoshi
Technology Platform Research Center, Seiko Epson Cooperation
-
SHIMODA Tatsuya
Technology Platform Research Center, Seiko Epson Cooperation
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TAM Simon
Cambridge Research Laboratory of Epson
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Lui BaSil
エプソンケンブリッジ研究所
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Lui B
Epson Cambridge Lab. Cambridge Gbr
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NOZAWA Ryoichi
Base Technology Research Center, Seiko Epson Corporation
-
Migliorato Piero
Univ. Cambridge Cambridge Gbr
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松枝 洋二郎
セイコーエプソン(株)基盤技術研究所
-
原 裕司
龍谷大学 電子情報学科
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木村 睦
龍谷大学 電子情報学科
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松枝 洋二郎
セイコーエプソン
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小野寺 亮
龍谷大学電子情報学科
-
笠川 知洋
龍谷大学電子情報学科
-
小嶋 明樹
龍谷大学電子情報学科
-
木村 睦
龍谷大学理工学部電子情報学科
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HARADA Kiyoshi
Department of Electronics and Informatics, Ryukoku University
-
YASUHARA Tohru
Department of Electronics and Informatics, Ryukoku University
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HARA Yuji
Ryukoku University
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HARA Hiroyuki
Seiko Epson Corporation
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Migliorato Piero
ケンブリッジ大学工学部
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Abe Daisuke
Frontier Device Research Center Seiko Epson Corporation
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Tam S
Cambridge Research Laboratory Of Epson
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LUI Basil
Epson Cambrodge Laboratory
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TAM Simon
Epson Cambridge Laboratory
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MIGLIORATO Piero
Department of Engineering, University of Cambridge
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SAMESHIMA Toshiyuki
Division of Electric and Information Engineering, Tokyo University of Agriculture and Technology
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Yasuhara Tohru
Department Of Electronics And Informatics Ryukoku University
-
Migliorato Piero
Department Of Engineering University Of Cambridge
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Hara Hiroyuki
Seiko Epson Corp. Nagano Jpn
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Kimura Mutsumi
Ryukoku Univ. Otsu Jpn
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Shimoda Tatsuya
Technology Platform Research Center Seiko Epson Corp.
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小嶋 明樹
龍谷大学
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木村 睦
龍谷大学大学院理工学研究科電子情報学専攻
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宮下 悟
セイコーエプソン 基盤技術研究所
-
YOSHINO Takuto
Department of Electronics and Informatics, Ryukoku University
-
ABE Daisuke
Frontier Device Research Center, Seiko Epson Corporation
-
INOUE Satoshi
Frontier Device Research Center, Seiko Epson Corporation
-
SHIMODA Tatsuya
Center for Nano Materials and Technology, Japan Advanced Institute of Science and Technology
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OKUYAMA Tomoyuki
Seiko Epson Corporation
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ABE Daisuke
Technology Platform Research Center, Seiko Epson Cooperation
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KIMURA Mutsumi
Technology Platform Research Center, Seiko Epson Corporation
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Tam Simon
エプソンケンブリッジ研究所
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SHIMODA Tatsuya[
Base Technology Research Center, Seiko Epson Corporation
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前田 浩
セイコーエプソン(株)基盤技術研究所
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宮下 悟
セイコーエプソン(株)nxd開発部
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宮下 悟
セイコーエプソン
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SAMESHIMA Toshiyuki
Department of Electrical and Electric Engineering, Tokyo University of Agriculture and Technology
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Kimura Mutsumi
Technology Platform Research Center Seiko Epson Corporation
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Harada Kiyoshi
Department Of Electronics And Informatics Ryukoku University
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Yoshino Takuto
Department Of Electronics And Informatics Ryukoku University
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木村 睦
龍谷大学
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三島 大樹
龍谷大学
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谷口 仁
龍谷大学
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田畑 裕貴
奈良先端科学技術大学院大学
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小野寺 亮
奈良先端科学技術大学院大学
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Kato Masakazu
Osaka University
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分銅 衡介
龍谷大学電子情報学科
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飯室 恵紀
龍谷大学電子情報学科
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瀬津 光司
龍谷大学電子情報学科
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佐川 祐樹
奈良先端科学技術大学院大学物質創成科学研究科
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SAWAMURA Shigeki
Nara Institute of Science and Technology
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SUZUKI Daisuke
Ryukoku University
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EGUCHI Tsukasa
LT Business Development Center, Seiko Epson Corporation
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Eguchi Tsukasa
Lt Business Development Center Seiko Epson Corporation
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Okuyama Tomoyuki
Seiko Epson Corp. Nagano Jpn
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笠川 知洋
龍谷大学
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三島 大樹
奈良先端科学技術大学院大学
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Kimura Mutsumi
Department of Chemistry, Graduate School of Natural Science and Technology, Okayama University
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Lui Basil
Epson Cambridge Laboratory, 8c King's Parade, Cambridge CB2 1SJ, United Kingdom
著作論文
- Poly-Si TFTを用いたデバイスレベルのニューラルネットワーク(シリコン関連材料の作製と評価)
- Extraction Technique of Trap Density at Grain Boundaries in Polycrystalline-Silicon Thin-Film Transistors with Device Simulation
- Classification of Driving Methods for TFT-OLEDs and Novel Proposal Using Time Ratio Grayscale and Current Uniformization(Electronic Displays)
- 表側と裏側の絶縁膜界面にトラップ準位をもつポリシリコン薄膜トランジスタのデバイスシミュレーション(ディスプレイ-IDW'03関連-)
- Extraction of Trap Densities at Front and Back Interfaces in Thin-Film Transistors
- Poly-Si TFT特性の酸化膜界面トラップと結晶粒界トラップに対する依存性およびその製造プロセス診断への応用(半導体Si及び関連材料・評価)
- Numerical Model of Thin-Film Transistors for Circuit Simulation Using Spline Interpolation with Transformation by y=x + log(x)(Regular Section)
- 多結晶シリコン薄膜トランジスタの絶縁膜-シリコン界面と結晶粒界のトラップ準位の抽出(低温または高温多結晶Siとアクティブマトリックス型ディスプレイ用薄膜トランジスタ論文特集)
- Extraction of Trap State at the Oxide-Silicon Interface and Grain Biundary in Polycrystallune Silicon Thin-Film Transistors
- Device Simulation of Grain Boundaries in Lightly Doped Polysilicon Films and Analysis of Dependence on Defect Density
- 多結晶シリコン薄膜トランジスタの特性解析とシミュレーション
- 多結晶シリコン薄膜トランジスタの特性解析とシミュレーション
- 低温多結晶シリコン薄膜トランジスタ駆動発光ポリマーディスプレイ
- Extraction of Trap States at the Oxide-Silicon Interface and Grain Boundary for Polycrystalline Silicon Thin-Film Transistors : Semiconductors
- Current Density Enhancement at Active Layer Edges in Polycrystalline Silicon Thin-Film Transistors : Semiconductors
- Device Simulation of Carrier Transport through Grain Boundaries in Lightly Doped Polysilicon Films and Dependence on Dopant Density : Semiconductors
- Current Paths over Grain Boundaries in Polycrystalline Silicon Films : Semiconductors
- Poly-Si TFTによるデバイスレベルのニューラルネットワーク(シリコン関連材料の作製と評価)
- TFT-OLEDの駆動方法における突抜誤差の補償方式(薄膜(Si,化合物,有機)機能デバイス・材料・評価技術)
- TFT-OLEDの駆動方法における突抜誤差の補償方式(薄膜(Si,化合物,有機)機能デバイス・材料・評価技術)
- TFT-OLEDの駆動方法における突抜誤差の補償方式(薄膜(Si,化合物,有機)機能デバイス・材料・評価技術)
- フィールド順次カラーTFT-LCDの液晶応答補償のための信号補正
- フィールド順次カラーTFT-LCDの液晶応答補償のための信号補正
- 薄膜トランジスタをもちいたポテンシオスタットによる電気化学測定(シリコン関連材料の作製と評価)
- [招待論文]多結晶シリコン薄膜トランジスタの電気特性解析とデバイスシミュレーション(プロセスクリーン化と新プロセス技術)
- Pulse-Width Modulation with Current Uniformization for TFT-OLEDs(Electronic Displays)
- Device Simulation of grain Boundaries with Oxide-Silicon Interface Roughness in Laser-Crystallized Polycrystalline Silicon Thin-Film Transistors
- 24.4:Investigation of Hot Carrier Degradation Due to AC Stress in Low Temperature Poly-Si TFTs(発表概要)(Report on 2000 SID International Symposium)