YASUHARA Tohru | Department of Electronics and Informatics, Ryukoku University
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概要
関連著者
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木村 睦
龍谷大学電子情報学科
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井上 聡
セイコーエプソン株式会社フロンティアデバイス研究所
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下田 達也
Center For Nano Materials And Technology Japan Advanced Institute Of Science And Technology
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木村 睦
Department Of Electronics And Informatics Ryukoku University
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HARADA Kiyoshi
Department of Electronics and Informatics, Ryukoku University
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YASUHARA Tohru
Department of Electronics and Informatics, Ryukoku University
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KIMURA Mutsumi
Department of Electronics and Informatics, Ryukoku University
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Abe Daisuke
Frontier Device Research Center Seiko Epson Corporation
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Kimura Mutsumi
Ryukoku University:innovative Materials And Processing Research Center
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Yasuhara Tohru
Department Of Electronics And Informatics Ryukoku University
著作論文
- Extraction Technique of Trap Density at Grain Boundaries in Polycrystalline-Silicon Thin-Film Transistors with Device Simulation
- 表側と裏側の絶縁膜界面にトラップ準位をもつポリシリコン薄膜トランジスタのデバイスシミュレーション(ディスプレイ-IDW'03関連-)