木村 睦 | 龍谷大学 理工学部 電子情報学科
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概要
関連著者
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木村 睦
龍谷大学 理工学部 電子情報学科
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木村 睦
龍谷大学電子情報学科
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井上 聡
セイコーエプソン株式会社フロンティアデバイス研究所
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木村 睦
龍谷大学理工学部電子情報学科
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Inoue S
Seiko Epson Corporation
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井上 聡
セイコーエプソン(株)フロンティアデバイス研究所
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木村 睦
龍谷大学理工学部
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下田 達也
Center For Nano Materials And Technology Japan Advanced Institute Of Science And Technology
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木村 睦
Department Of Electronics And Informatics Ryukoku University
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SHIMODA Tatsuya
Seiko Epson Corporation
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Shimoda Tatsuya[
Base Technology Research Center Seiko Epson Corporation
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木村 睦
龍谷大学 電子情報学科
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下田 達也
Seiko Epson Corporation
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笠川 知洋
龍谷大学電子情報学科
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原 弘幸
セイコーエプソン株式会社フロンティアデバイス研究所
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下田 達也
セイコーエプソン 基盤技術研究所
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下田 達也
セイコーエフ゜ソン株式会社 Tprc 第四研究ク゛ルーフ゜
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加藤 正和
龍谷大学 電子情報学科
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木村 睦
セイコーエプソン(株)基盤技術研究所
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木村 睦
セイコーエプソン 基盤技研
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原 裕司
龍谷大学 電子情報学科
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小野寺 亮
龍谷大学電子情報学科
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小嶋 明樹
龍谷大学電子情報学科
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TAM Simon
Cambridge Research Laboratory of Epson
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野澤 陵一
セイコーエプソン株式会社OLED技術開発部
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Lui BaSil
エプソンケンブリッジ研究所
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Migliorato Piero
ケンブリッジ大学工学部
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Tam S
Cambridge Research Laboratory Of Epson
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Lui B
Epson Cambridge Lab. Cambridge Gbr
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Kimura Mutsumi
Ryukoku University:innovative Materials And Processing Research Center
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Nozawa Ryoichi
Base Technology Research Center Seiko Epson Corporation
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Migliorato Piero
Univ. Cambridge Cambridge Gbr
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木村 睦
龍谷大学
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谷口 仁
龍谷大学
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小嶋 明樹
龍谷大学
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笠川 知洋
龍谷大学
-
三島 大樹
奈良先端科学技術大学院大学
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藤田 悠佑
龍谷大学理工学部
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木村 睦
龍谷大学大学院理工学研究科電子情報学専攻
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井上 光輝
豊橋技術科学大学
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金 周映
豊橋技術科学大学
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内田 裕久
豊橋技術科学大学
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内田 裕久
東北工業大学
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大井 秀夫
龍谷大学理工学部電子情報学科
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鈴木 洋一
FDK株式会社技術開発本部
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石川 省吾
FDK株式会社技術開発本部
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梅澤 浩光
FDK株式会社技術開発本部
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高木 宏幸
豊橋技術科学大学電気電子工学系
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金 周映
豊橋技術科学大学工学部環境生命工学系
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Tam Simon
エプソンケンブリッジ研究所
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INOUE Satoshi
Base Technology Research Center, Seiko Epson Corp.
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SHIMODA Tatsuya
Base Technology Research Center, Seiko Epson Corp.
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KIMURA Mutsumi
Base Technology Research Center, Seiko Epson Corporation
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NOZAWA Ryoichi
Base Technology Research Center, Seiko Epson Corporation
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LUI Basil
Epson Cambrodge Laboratory
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TAM Simon
Epson Cambridge Laboratory
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MIGLIORATO Piero
Department of Engineering, University of Cambridge
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梅澤 浩光
FDK(株)
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Migliorato Piero
Department Of Engineering University Of Cambridge
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鈴木 洋一
Fdk株式会社
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Shimoda Tatsuya
Base Technology Research Center Seiko Epson Corporation
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三島 大樹
龍谷大学
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田畑 裕貴
奈良先端科学技術大学院大学
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小野寺 亮
奈良先端科学技術大学院大学
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高木 宏幸
豊橋技術科学大学
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梅澤 浩光
Fdk株式会社 研究開発部 光デバイス開発部
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分銅 衡介
龍谷大学電子情報学科
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飯室 恵紀
龍谷大学電子情報学科
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瀬津 光司
龍谷大学電子情報学科
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佐川 祐樹
奈良先端科学技術大学院大学物質創成科学研究科
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Kimura Mutsumi
Base Technology Research Center Seiko Epson Corporation
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宮谷 友彰
龍谷大学
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藤田 悠佑
龍谷大学
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Lui Basil
Epson Cambridge Laboratory, 8c King's Parade, Cambridge CB2 1SJ, United Kingdom
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森田 竜平
龍谷大学理工学部
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梅澤 浩光
FDK株式会社
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山口 裕貴
龍谷大学理工学部
-
宮谷 友彰
龍谷大学理工学部
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笠川 知洋
龍谷大学理工学部
著作論文
- Poly-Si TFTを用いたデバイスレベルのニューラルネットワーク(シリコン関連材料の作製と評価)
- 磁気光学空間光変調器のPoly-Si TFTによるアクティブマトリクス駆動の動作検討(シリコン関連材料の作製と評価)
- Poly-Si TFT特性の酸化膜界面トラップと結晶粒界トラップに対する依存性およびその製造プロセス診断への応用(半導体Si及び関連材料・評価)
- 多結晶シリコン薄膜トランジスタの絶縁膜-シリコン界面と結晶粒界のトラップ準位の抽出(低温または高温多結晶Siとアクティブマトリックス型ディスプレイ用薄膜トランジスタ論文特集)
- 多結晶シリコン薄膜トランジスタの特性解析とシミュレーション
- 多結晶シリコン薄膜トランジスタの特性解析とシミュレーション
- Extraction of Trap States at the Oxide-Silicon Interface and Grain Boundary for Polycrystalline Silicon Thin-Film Transistors : Semiconductors
- Poly-Si TFTによるデバイスレベルのニューラルネットワーク(シリコン関連材料の作製と評価)
- TFT-OLEDの駆動方法における突抜誤差の補償方式(薄膜(Si,化合物,有機)機能デバイス・材料・評価技術)
- TFT-OLEDの駆動方法における突抜誤差の補償方式(薄膜(Si,化合物,有機)機能デバイス・材料・評価技術)
- TFT-OLEDの駆動方法における突抜誤差の補償方式(薄膜(Si,化合物,有機)機能デバイス・材料・評価技術)
- 薄膜トランジスタをもちいたポテンシオスタットによる電気化学測定(シリコン関連材料の作製と評価)
- インテリジェント薄膜トランジスタ
- 多結晶シリコン薄膜トランジスタの電気特性解析とデバイスシミュレーションによる表裏絶縁膜界面と結晶粒界のトラップ準位の評価(半導体材料・デバイス)
- 多結晶シリコン薄膜トランジスタの電気特性解析とデバイスシミュレーション
- [招待論文]多結晶シリコン薄膜トランジスタの電気特性解析とデバイスシミュレーション(プロセスクリーン化と新プロセス技術)
- 薄膜トランジスタのフォトデバイス応用
- Poly-Si TFTによるデバイスレベルのニューラルネットワーク : 複数回の学習とAND・OR・EXORの学習(シリコン関連材料の作製と評価)
- IDW '11
- IDW '11
- 薄膜トランジスタによるニューラルネットワーク : 非対称回路での動作確認(シリコン関連材料の作製と評価)
- 11. インテリジェント薄膜トランジスタ(大学発の次世代ディスプレイ研究)