Tam S | Cambridge Research Laboratory Of Epson
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概要
関連著者
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木村 睦
龍谷大学電子情報学科
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井上 聡
セイコーエプソン株式会社フロンティアデバイス研究所
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下田 達也
Center For Nano Materials And Technology Japan Advanced Institute Of Science And Technology
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木村 睦
Department Of Electronics And Informatics Ryukoku University
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SHIMODA Tatsuya
Seiko Epson Corporation
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TAM Simon
Cambridge Research Laboratory of Epson
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野澤 陵一
セイコーエプソン株式会社OLED技術開発部
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Lui BaSil
エプソンケンブリッジ研究所
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Migliorato Piero
ケンブリッジ大学工学部
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Tam S
Cambridge Research Laboratory Of Epson
著作論文
- 多結晶シリコン薄膜トランジスタの絶縁膜-シリコン界面と結晶粒界のトラップ準位の抽出(低温または高温多結晶Siとアクティブマトリックス型ディスプレイ用薄膜トランジスタ論文特集)
- Extraction of Trap States at the Oxide-Silicon Interface and Grain Boundary for Polycrystalline Silicon Thin-Film Transistors : Semiconductors