岩谷 素顕 | 名城大学大学院理工学研究科
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概要
関連著者
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岩谷 素顕
名城大学大学院理工学研究科
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上山 智
名城大学大学院理工学研究科
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赤崎 勇
名城大学大学院理工学研究科
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岩谷 素顕
名城大学理工学研究科
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名城大学大学院理工学研究科
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名城大学理工学研究科
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上山 智
名城大学理工学研究科
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名城大学大学院 理工学研究科・21世紀coeナノファクトリー
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名城大学大学院・理工学研究科,名城大学大学院・理工学研究科・21世紀COEナノファクトリー
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飯田 一喜
名城大・理工・21世紀coe「ナノファクトリー」:名城大学理工学部材料機能工学科
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竹内 哲也
名城大学大学院理工学研究科
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津田 道信
名城大学大学院理工学研究科、21世紀COE"ナノファクトリー"
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井村 将隆
名城大学大学院・理工学研究科・21世紀COEナノファクトリー
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井村 将隆
名城大学大学院 理工学研究科・21世紀coeナノファクトリー
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天野 浩
名城大学理工学研究科電気電子・情報・材料工学専攻
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津田 道信
名城大学大学院・理工学研究科:名城大学大学院・理工学研究科・21世紀coeナノファクトリー:京セラ株式会社
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天野 浩
名古屋大学大学院工学研究科赤崎記念研究センター
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天野 浩
名古屋大学 大学院工学研究科 電子情報システム専攻 赤崎記念研究センター
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名古屋大学
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名城大学理工学部電気電子工学科
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名城大学理工学研究科 21世紀coe"ナノファクトリー
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本塩 彰
名城大学大学院理工学研究科、21世紀coe"ナノファクトリー
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名城大学大学院・理工学研究科
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岩谷 素顕
名城大学・理工学部
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本塩 彰
名城大学大学院・理工学研究科・21世紀COEナノファクトリー
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赤崎 勇
名城大学理工学研究科電気電子・情報・材料工学専攻
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赤★ 勇
名城大学大学院・理工学研究科:名城大学・ハイテクリサーチセンター
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天野 浩
名古屋大学大学院工学研究科電子情報システム専攻
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永松 謙太郎
名城大学理工学研究科
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名城大学理工学研究科
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春日井 秀紀
名城大学理工学研究科、21世紀COEプログラムナノファクトリー
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三宅 泰人
名城大学理工学研究科、21世紀COEプログラムナノファクトリー
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森 勇介
大阪大学大学院工学研究科
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北野 司
名城大学大学院・理工学研究科・21世紀coeナノファクトリー
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本田 善央
名古屋大学
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竹内 哲也
名城大理工
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竹田 健一郎
名城大・理工
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藤元 直樹
名城大学大学院・理工学研究科・21世紀coeナノファクトリー
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永松 謙太郎
名城大学大学院理工学研究科
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山口 雅史
名古屋大学工学研究科電子情報システム専攻
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バラクリッシュナン クリッシュナン
名城大・理工・21世紀coe「ナノファクトリー」:名城大学理工学部材料機能工学科
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竹田 健一郎
名城大学大学院理工学研究科
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古川 寛子
名城大学大学院理工学研究科、21世紀COE"ナノファクトリー"
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岡留 由真
名城大学大学院理工学研究科、21世紀COE"ナノファクトリー"
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土屋 陽祐
名城大学大学院理工学研究科、21世紀COE"ナノファクトリー"
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仲野 靖孝
名城大学大学院・理工学研究科・21世紀COEナノファクトリー
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春日井 秀紀
名城大学大学院・理工学研究科,名城大学大学院・理工学研究科・21世紀COEナノファクトリー
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三宅 泰人
名城大学大学院・理工学研究科,名城大学大学院・理工学研究科・21世紀COEナノファクトリー
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北岡 康夫
大阪大学大学院 工学研究科
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三宅 泰人
名城大学大学院理工学研究科、21世紀coe"ナノファクトリー
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春日井 秀紀
名城大学大学院理工学研究科、21世紀coe"ナノファクトリー
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成田 剛
名城大学大学院・理工学研究科
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土屋 陽祐
名城大学大学院・理工学研究科・21世紀coeナノファクトリー
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春日井 秀紀
名城大 大学院理工学研究科
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三宅 泰人
名城大 大学院理工学研究科
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天野 浩
名城大学 理工学部材料機能工学科
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成田 剛
名城大学大学院・理工学研究科・21世紀coeナノファクトリー
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仲野 靖孝
名城大学大学院 理工学研究科・21世紀coeナノファクトリー
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山口 雅史
名古屋大学
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古川 寛子
名城大学大学院・理工学研究科・21世紀coeナノファクトリー
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岡留 由真
名城大学大学院・理工学研究科・21世紀coeナノファクトリー
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名城大
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パナソニック株式会社セミコンダクター社半導体デバイス研究センター
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大阪大学大学院工学研究科
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名城大学大学院理工学研究科
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名城大学大学院理工学研究科
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山下 浩司
名城大学大学院理工学研究科
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加賀 充
名城大学大学院理工学研究科
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矢木 康太
名城大学大学院理工学研究科
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名城大学・理工学部
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名城大学大学院理工学研究科
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名城大学大学院理工学研究科
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佐野 智昭
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高浪 俊
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佐野 智昭
名城大学大学院・理工学研究科
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竹田 健一郎
名城大学
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森 勇介
阪大・院工
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三島 俊介
名城大学理工学研究科、21世紀COEプログラムナノファクトリー
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北岡 康夫
大阪大学大学院工学研究科
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杉山 貴之
名城大学理工学研究科
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市川 友紀
名城大・理工
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永田 賢吾
名城大・理工
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今出 完
阪大院工
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森 俊晶
名城大学大学院理工学研究科
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浅井 俊晶
名城大学大学院理工学研究科
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永田 賢吾
名城大学大学院理工学研究科
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市川 友紀
名城大学大学院理工学研究科
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根賀 亮平
名城大学大学院理工学研究科材料機能工学専攻
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水野 克俊
名城大学大学院理工学研究科材料機能工学専攻
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三島 俊介
名城大学大学院・理工学研究科,名城大学大学院・理工学研究科・21世紀COEナノファクトリー
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高木 俊
イビデン株式会社
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三島 俊介
名城大学大学院・理工学研究科 名城大学大学院・理工学研究科・21世紀coeナノファクトリー
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野呂 匡志
イビデン株式会社セラミック事業本部機能部材事業部技術グルーブ
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広瀬 貴利
名城大学大学院・理工学研究科
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バラクリシュナン クリシュナン
名城大学大学院・理工学研究科
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森 勇介
大阪大 工
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山口 雅史
名古屋大学工学研究科
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Balakrishnan Krishnan
名城大学大学院・理工学研究科・21世紀COEナノファクトリー
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下野 健二
イビデン株式会社
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坂東 章
昭和電工株式会社
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本田 善央
名古屋大学工学研究科
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野呂 匡志
イビデン株式会社
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永井 哲也
名城大学大学院 理工学研究科・21世紀COEナノファクトリー
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坂東 章
昭和電工(株):名城大学理工学部材料機能工学科
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高木 俊
イビデン
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山本 準一
名城大・理工
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鈴木 敦志
エルシード株式会社
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井手 公康
名城大・理工
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森 勇介
大阪大学大学院工学研究科電気工学専攻
-
本田 善央
名古屋大学大学院工学研究科
-
赤★ 勇
名城大学大学院・理工学研究科
-
広瀬 貴利
名城大学大学院・理工学研究科:名城大学大学院・理工学研究科・21世紀coeナノファクトリー
-
広瀬 貴利
名城大 大学院理工学研究科
-
天野 浩
名城大学・理工学部理工学研究科21世紀coeプログラム"ナノファクトリー
-
赤崎 勇
名城大・理工
-
上山 智
名城大学・ハイテクリサーチセンター
-
赤崎 勇
名城大学・ハイテクリサーチセンター
-
上山 智
名城大学HRC
-
天野 浩
名城大学HRC
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赤崎 勇
名城大学HRC
-
赤 勇
名城大学大学院・理工学研究科
-
天野 浩
名古屋大学工学研究科
著作論文
- 溝加工したAlN上AlGaNの転位解析(結晶成長,評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子・光材料))
- 酸素雰囲気中での活性化アニールによる紫外発光素子の高効率化(窒化物及び混晶半導体デバイス)
- p型GaNゲート ノーマリーオフ型AlGaN/GaN Junction HFETのオン抵抗と耐圧(結晶成長,評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子・光材料))
- MOVPE法によるR面サファイア上GaNの高速成長(結晶成長, 評価技術及びデバイス(化合物, Si, SiGe, その他電子材料))
- サファイアR面基板上低転位GaNの特性評価(結晶成長, 評価技術及びデバイス(化合物, Si, SiGe, その他電子材料))
- サファイアR面上に作製した紫色LED(化合物混晶半導体デバイス・材料(含むSiGe,ワイドギャップ半導体),一般)
- サファイアR面オフ基板上に作製したIII族窒化物半導体 : 基板オフ角依存性(化合物混晶半導体デバイス・材料(含むSiGe,ワイドギャップ半導体),一般)
- 低転位AlGaN上の紫外発光素子(窒化物及び混晶半導体デバイス)
- AlGaN混晶の高品質化と紫光デバイスへの応用(進展する窒化物半導体光・電子デバイスの現状,及び一般)
- 酸素雰囲気中での活性化アニールによる紫外発光素子の高効率化(窒化物及び混晶半導体デバイス)
- 酸素雰囲気中での活性化アニールによる紫外発光素子の高効率化(窒化物及び混晶半導体デバイス)
- p型GaNゲート ノーマリーオフ型AlGaN/GaN Junction HFETのオン抵抗と耐圧(結晶成長,評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子・光材料))
- 溝加工したAlN上AlGaNの転位解析(結晶成長,評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子・光材料))
- p型GaNゲート ノーマリーオフ型AlGaN/GaN Junction HFETのオン抵抗と耐圧(結晶成長,評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子・光材料))
- 溝加工したAlN上AlGaNの転位解析(結晶成長,評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子・光材料))
- サファイア溝基板上AlNのELO(結晶成長, 評価技術及びデバイス(化合物, Si, SiGe, その他電子材料))
- サファイア溝基板上AlNのELO(結晶成長, 評価技術及びデバイス(化合物, Si, SiGe, その他電子材料))
- サファイア溝基板上AlNのELO(結晶成長, 評価技術及びデバイス(化合物, Si, SiGe, その他電子材料))
- サファイアR面上に作製した紫色LED(化合物混晶半導体デバイス・材料(含むSiGe,ワイドギャップ半導体),一般)
- サファイアR面上に作製した紫色LED(化合物混晶半導体デバイス・材料(含むSiGe,ワイドギャップ半導体),一般)
- サファイアR面オフ基板上に作製したIII族窒化物半導体 : 基板オフ角依存性(化合物混晶半導体デバイス・材料(含むSiGe,ワイドギャップ半導体),一般)
- MOVPE法によるR面サファイア上GaNの高速成長(結晶成長, 評価技術及びデバイス(化合物, Si, SiGe, その他電子材料))
- サファイアR面基板上低転位GaNの特性評価(結晶成長, 評価技術及びデバイス(化合物, Si, SiGe, その他電子材料))
- MOVPE法によるR面サファイア上GaNの高速成長(結晶成長, 評価技術及びデバイス(化合物, Si, SiGe, その他電子材料))
- サファイアR面基板上低転位GaNの特性評価(結晶成長, 評価技術及びデバイス(化合物, Si, SiGe, その他電子材料))
- サファイアR面オフ基板上に作製したIII族窒化物半導体 : 基板オフ角依存性(化合物混晶半導体デバイス・材料(含むSiGe,ワイドギャップ半導体),一般)
- MOVPE法による厚膜AlN成長(結晶成長, 評価技術及びデバイス(化合物, Si, SiGe, その他電子材料))
- MOVPE法による厚膜AlN成長(結晶成長, 評価技術及びデバイス(化合物, Si, SiGe, その他電子材料))
- MOVPE法による厚膜AlN成長(結晶成長, 評価技術及びデバイス(化合物, Si, SiGe, その他電子材料))
- 低転位AlGaN上の紫外発光素子(窒化物及び混晶半導体デバイス)
- 低転位AlGaN上の紫外発光素子(窒化物及び混晶半導体デバイス)
- 低転位AlGaN上の紫外発光素子
- 低転位AlGaNを用いた高効率紫外発光ダイオード及び紫外レーザダイオード(結晶成長評価およびデバイス(化合物, Si, SiGe, その他の電子材料))
- 高品質AlGaNのMOVPE成長(結晶成長評価およびデバイス(化合物, Si, SiGe, その他の電子材料))
- 低転位AlGaNを用いた高効率紫外発光ダイオード及び紫外レーザダイオード(結晶成長評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,その他の電子材料))
- 高品質AlGaNのMOVPE成長(結晶成長評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,その他の電子材料))
- m面SiC基板上に成長したIII族窒化物半導体薄膜の微細構造観察(結晶成長評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,その他の電子材料))
- m面SiC基板上に成長したIII族窒化物半導体薄膜の微細構造観察(結晶成長評価及びデバイス(化合物,Si, SiGe,その他の電子材料))
- m面SiC基板上に成長したIII族窒化物半導体薄膜の微細構造観察(結晶成長評価及びデバイス(化合物,Si, SiGe,その他の電子材料))
- 低転位AlGaNを用いた高効率紫外発光ダイオード及び紫外レーザダイオード(結晶成長評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,その他の電子材料))
- 高品質AlGaNのMOVPE成長(結晶成長評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,その他の電子材料))
- AlGaN混晶の高品質化と紫光デバイスへの応用(進展する窒化物半導体光・電子デバイスの現状,及び一般)
- GaN系HFETsの電流コラプスの測定 : 非極性a面GaN基板上HFET及びc-GaN基板上p-GaNゲートを用いたノーマリーオフ型JHFET(FET,結晶成長,評価技術及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子・光材料))
- III族窒化物半導体トンネル接合を用いた電流経路制御の検討(輸送特性,結晶成長,評価技術及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子・光材料))
- AlNテンプレートを用いた高品質AlN/GaN多層膜反射鏡の作製(MOVPE,結晶成長,評価技術及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子・光材料))
- GaN系HFETsの電流コラプスの測定 : 非極性a面GaN基板上HFET及びc-GaN基板上p-GaNゲートを用いたノーマリーオフ型JHFET(FET,結晶成長,評価技術及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子・光材料))
- III族窒化物半導体トンネル接合を用いた電流経路制御の検討(輸送特性,結晶成長,評価技術及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子・光材料))
- AlNテンプレートを用いた高品質AlN/GaN多層膜反射鏡の作製(MOVPE,結晶成長,評価技術及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子・光材料))
- GaN系HFETsの電流コラプスの測定 : 非極性a面GaN基板上HFET及びc-GaN基板上p-GaNゲートを用いたノーマリーオフ型JHFET(FET,結晶成長,評価技術及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子・光材料))
- III族窒化物半導体トンネル接合を用いた電流経路制御の検討(輸送特性,結晶成長,評価技術及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子・光材料))
- AlNテンプレートを用いた高品質AlN/GaN多層膜反射鏡の作製(MOVPE,結晶成長,評価技術及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子・光材料))
- GaN系HFETsの電流コラプスの測定 : 非極性a面GaN基板上HFET及びc-GaN基板上p-GaNゲートを用いたノーマリーオフ型JHFET
- GaN系HFETsの電流コラプスの測定 : 非極性a面GaN基板上HFET及びc-GaN基板上p-GaNゲートを用いたノーマリーオフ型JHFET
- GaN系HFETsの電流コラプスの測定 : 非極性a面GaN基板上HFET及びc-GaN基板上p-GaNゲートを用いたノーマリーオフ型JHFET
- ELO-AlN上AlGaNの微細構造観察(窒化物半導体光・電子デバイス・材料,関連技術,及び一般)
- ELO-AlN上AlGaNの微細構造観察(窒化物半導体光・電子デバイス・材料,関連技術,及び一般)
- ELO-AlN上AlGaNの微細構造観察(窒化物半導体光・電子デバイス・材料,関連技術,及び一般)
- ELO-AlN上AlGaNの微細構造観察
- ELO-AlN上AlGaNの微細構造観察
- ELO-AlN上AlGaNの微細構造観察