X線回折逆格子空間マッピング法を用いた強誘電体薄膜中のドメイン構造の観察 (特集 強誘電体におけるドメインエンジニアリングの最新動向)
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概要
著者
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Funakubo H
Dep. Of Innovative And Engineered Materials Tokyo Inst. Of Technol.
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斎藤 啓介
日本フィリップス アプリケーションラボラトリー
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舟窪 浩
東京工業大学大学院 総合理工学研究科 物質科学創造専攻
-
舟窪 浩
東工大院総合理工学研究科
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