C-12-28 民生用FPGAにおける放射線起因エラーの評価(LSIアーキテクチャ,C-12.集積回路,一般セッション)
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概要
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- 2013-09-03
著者
-
大島 武
日本原子力研究開発機構
-
廣瀬 和之
総合研究大学院大学
-
大槻 真嗣
宇宙航空研究開発機構
-
牧野 高紘
日本原子力研究開発機構高崎量子応用研究所
-
柴田 優一
東京大学大学院工学系研究科電気系工学専攻
-
小林 大輔
東京大学大学院工学系研究科電気系工学専攻,宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究所
-
廣瀬 和之
東京大学大学院工学系研究科電気系工学専攻,宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究所
-
大島 武
日本原子力研究開発機構量子ビーム応用研究部門
-
牧野 高紘
日本原子力研究開発機構量子ビーム応用研究部門
-
柴田 優一
東京大学大学院工学系研究科
-
牧野 高紘
日本原子力研究開発機構半導体耐放射線性研究グループ
-
小林 大輔
東京大学大学院工学系研究科,宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究所
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