周期溝加工基板上への減圧HVPE法によるAlN成長と評価(窒化物半導体光・電子デバイス・材料,及び関連技術,及び一般)
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概要
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HVPE法によるSapphire基板上へのAlN成長では、AlNとSapphireとの熱膨張係数差によるクラックが問題になっている.本研究では,周期溝構造をもった基板を下地として,減圧HVPE法によりAlN成長を行った.周期構加工基板を用いることにより、クラックフリーAlN膜の成長に成功した.周期溝構造をもったAlN/Sapphire基板上への成長ではX線回折のFWHMは,(0002)で132 arcsecで,(10-10)で594 arcsecであった.また、周期溝加工をもたない下地基板上に成長したAlN膜と比較すると,XRCのFWHMが約1/3減少したことがわかった.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2008-11-20
著者
-
奥浦 一輝
三重大学大学院工学研究科
-
平松 和政
三重大学大学院工学研究科
-
三宅 秀人
三重大学工学部電気電子工学科
-
桑野 範之
九州大学
-
平松 和政
三重大学工学部電気電子工学科
-
平松 和政
三重大 工
-
桑野 範之
九州大学産学連携センター
-
Matsushima Hidetada
Department Of Electronics School Of Engineering Nagoya University
-
江崎 哲也
九州大学総合理工学府
-
Kuwano Noriyuki
Department Of Materials Science And Technology Kyushu University
-
片桐 佑介
三重大学工学部電気電子工学科
-
奥浦 一輝
三重大学工学部電気電子工学科
-
呉 潔君
三重大学工学部電気電子工学科
-
平松 和政
三重大学工学部電子電気工学科
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