Consideration on the Quantitativeness of Reflection High Energy Electron Diffraction Intensity as a Tool to Monitor the Coverage of the Si(111) Surface by 7×7 Domains

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概要

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• 社団法人応用物理学会の論文
• 1999-02-15

著者

• OHDOMARI Iwao

  School of Science and Engineering, Waseda University

• 大泊 巌

  早大理工

• 大泊 巌

  早稲田大学理工学術院

• Ohdomari Iwao

  School Of Science And Engineering Waseda University

• Ohdomari Iwao

  School Of Science And Engineering Waseda University:kagami-memorial Laboratory For Materials Science

• Ohdomari Iwao

  School Of Science And Engineering Waseda University:kagami Memorial Laboratory For Materials Science

• ISHIMARU Tetsuya

  School of Science and Engineering, Waseda University

• KAWADA Hiroki

  School of Science and Engineering, Waseda University

• SHIMADA Kazuyoshi

  School of Science and Engineering, Waseda University

• KATSUBE Satoshi

  School of Science and Engineering, Waseda University

• Kawada Hiroki

  School Of Science And Engineering Waseda University:kagami-memorial Laboratory For Materials Science

• Ishimaru Tetsuya

  School Of Science And Engineering Waseda University:kagami-memorial Laboratory For Materials Science

• 大泊 巌

  早大

• 大泊 巌

  早大・理工

• Shimada K

  School Of Science And Engineering Waseda University

• Katsube Satoshi

  School Of Science And Engineering Waseda University

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