安田 哲二 | 産業技術総合研究所
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概要
関連著者
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安田 哲二
産業技術総合研究所
-
安田 哲二
(独)産業技術総合研究所ナノ電子デバイス研究センター
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大竹 晃浩
(独)物質・材料研究機構量子ドット研究センター
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八百 隆文
東北大金材研
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三輪 司郎
Jrcat-atp
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安田 哲二
Jrcat-産総研:次世代半導体-産総研
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大竹 晃浩
JRCAT-ATP
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安田 哲二
Jrcat-nair
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木村 康三
アトムテクノロジー研究体
-
郭 立信
アトムテクノロジー研究体
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八百 隆文
JRCAT-NAIR
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花田 貴
東北大金研
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石田 興太郎
東理大理工
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安田 哲二
半導体MIRAI-産総研ASRC
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高瀬 文
東理大理工
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栗林 勝
東理大理工
-
Kuo Li-hsin
JRCA-ATP
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安田 哲二
JRCA-ATP
-
八百 隆文
JRCA-NAIR
-
石田 興太郎
理科大
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栗林 勝
理学電機(株)
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安田 哲二
産業技術総合研究所 次世代半導体研究センター
-
花田 貴
JRCAT-NAIR
-
尾関 雅志
JRCAT-ATP
-
郭 立信
JRCAT-ATP
-
木村 康三
JRCAT-ATP
-
三輪 司郎
アトムテクノロジー研究体
-
安田 哲二
アトムテクノロジー研究体
-
大竹 晃浩
アトムテクノロジー研究体
-
八百 隆文
アトムテクノロジー研究体
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花田 貴
東北大学金属材料研究所
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尾関 雅志
JRCAT
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山田 永
住友化学(株)筑波研究所
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加藤 弘之
神戸大学大学院経済学研究科
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大竹 晃浩
物質・材料研究機構量子ドットセンター
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木村 健二
京都大学工学研究科マイクロエンジニアリング専攻
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中嶋 薫
京都大学工学研究科マイクロエンジニアリング専攻
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中嶋 薫
京都大学 大学院工学研究科
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木村 健二
京都大学 大学院工学研究科
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吉越 章隆
日本原子力研究所・関西研究所・放射光科学研究センター
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古宮 聡
富士通
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竹中 充
東京大学 先端科学技術研究センタ
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大野 真也
横国大工
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田中 正俊
横国大工
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新江 定憲
横国大工
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豊島 弘明
横国大工
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右田 真司
産業技術総合研究所
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太田 裕之
産業技術総合研究所
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寺岡 有殿
日本原子力研究開発機構 量子ビーム応用研究部門
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寺岡 有殿
原研
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松本 卓三
東理大理工
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古宮 聡
富士通研究所
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侘美 克彦
東理大理工
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木村 康三
JRCA-ATP
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三輪 司郎
JRCA-NAIR
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石田 興太郎
東理大・理
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石田 興太郎
東大・教養
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板谷 太郎
産業技術総合研究所
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竹中 充
東京大学
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高木 信一
東京大学
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大野 真也
横浜国立大学工学部知能物理工学科
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吉越 章隆
(独)日本原子力研究開発機構 量子ビーム応用研究部門
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田邊 顕人
半導体MIRAI-ASET
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小村 琢治
Jrcat-nair
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横山 正史
東京大学工学系研究科電子工学専攻
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金 成国
JRCAT-NAIR
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大竹 晃浩
JRCA-ATP
-
富田 博文
富士通研究所
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宮田 典幸
産業技術総合研究所
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卜部 友二
産業技術総合研究所
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石井 裕之
産業技術総合研究所
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前田 辰郎
産業技術総合研究所
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福原 昇
住友化学
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星井 拓也
東京大学
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吉越 章隆
原研 放射光科学研セ
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森本 真弘
横国大工
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横山 正史
東京大学
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石田 興太郎
東京理科大学理工学部物理学科
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井上 慧
横国大工
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藤代 博記
東京理科大学
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森田 行則
産業技術総合研究所
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大竹 晃浩
物質・材料研究機構
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田中 正俊
横浜国立大学大学院工学府物理情報工学
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森本 真弘
横浜国立大学大学院工学府物理情報工学
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大野 真也
横浜国立大学大学院工学府物理情報工学
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木村 健二
京都大学
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山田 永
住友化学
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昌原 明植
産業技術総合研究所
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森田 行則
(独)産業技術総合研究所ナノエレクトロニクス研究部門
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寺岡 有殿
日本原子力研究開発機構
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井上 慧
横浜国立大学大学院工学研究院
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新江 定憲
横浜国立大学大学院工学研究院
-
豊島 弘明
横浜国立大学大学院工学研究院
-
尾形 祥一
横浜国立大学大学院工学研究院
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小倉 睦郎
産業技術総合研
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寺岡 有殿
日本原子力研究所放射光科学研究センター
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福田 浩一
産業技術総合研究所
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寺岡 有殿
日本原子力研究開発機構量子ビーム応用研究部門
-
森田 行則
半導体MIRAI-産総研ASRC
-
水林 亘
産業技術総合研究所
-
右田 真司
産業技術総合研究所グリーンナノエレクトロニクスセンター
-
吉越 章隆
日本原子力研究所
-
寺岡 有殿
日本原子力研究所
-
昌原 明植
産業技術総合研究所グリーンナノエレクトロニクスセンター
-
水林 亘
産業技術総合研究所グリーンナノエレクトロニクスセンター
-
新江 定憲
横国大院工
-
森田 行則
産業技術総合研究所グリーンナノエレクトロニクスセンター
-
森 貴洋
産業技術総合研究所グリーンナノエレクトロニクスセンター
-
田邊 顕人
産業技術総合研究所グリーンナノエレクトロニクスセンター
-
安田 哲二
産業技術総合研究所グリーンナノエレクトロニクスセンター
-
前田 辰郎
東京理科大学大学院:産業技術総合研究所
-
後藤 高寛
東京理科大学大学院
-
藤川 紗千恵
東京理科大学大学院
-
藤川 紗千恵
東京理科大学
-
後藤 高寛
東京理科大学大学院:産業技術総合研究所
-
藤代 博記
東京理科大学大学院
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昌原 明植
連携研究体グリーン・ナノエレクトロニクスセンター,ナノエレクトロニクス研究部門,産業技術総合研究所
著作論文
- X線非対称反射を用いたZnSe/GaAsの膜厚精密決定
- 27a-PS-35 Se吸着GaAs(111)A-(2√×2√)-R30°表面再配列構造
- 7a-PS-52 GaAs{111}A, B-(2×2)極性表面上におけるZnSe成長
- 28a-T-4 Te終端GaAs(001)表面上におけるZnSeの成長形態と欠陥生成
- ZnSe/GaAsヘテロバレント界面の評価と制御
- 19pPSB-34 GaAs(001)表面上でのIn_xGa_Asの層状成長
- 24pPSA-15 As分子線照射下におけるGaAs(001)表面構造
- 29a-PS-39 ALE成長中におけるZnSe(001)表面
- 2a-YF-13 X線反射率測定によるMBE-ZnSe/GaAs(001)ヘテロ界面の評価
- High-k/III-V界面の組成・構造とMIS特性との関係(ゲート絶縁薄膜、容量膜、機能膜及びメモリ技術)
- ZnSe/GaAsヘテロバレント界面の評価と制御
- 反射率差振動を利用したシリコン酸化層数のその場計測
- Si高指数面酸化過程のリアルタイム光電子分光による評価(ゲート絶縁薄膜,容量膜,機能膜及びメモリ技術)
- Tunnel FETの非局所モデリング : デバイスモデルと回路モデル(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)
- 真空アニール法がAl_2O_3/GaSb MOS界面に与える影響(半導体プロセス・デバイス(表面,界面,信頼性),一般)