2a-YF-13 X線反射率測定によるMBE-ZnSe/GaAs(001)ヘテロ界面の評価
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概要
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- 社団法人日本物理学会の論文
- 1998-03-10
著者
-
古宮 聡
富士通
-
石田 興太郎
東理大理工
-
松本 卓三
東理大理工
-
古宮 聡
富士通研究所
-
八百 隆文
東北大金材研
-
高瀬 文
東理大理工
-
栗林 勝
東理大理工
-
Kuo Li-hsin
JRCA-ATP
-
安田 哲二
JRCA-ATP
-
八百 隆文
JRCA-NAIR
-
石田 興太郎
東理大・理
-
石田 興太郎
東大・教養
-
石田 興太郎
理科大
-
栗林 勝
理学電機(株)
-
安田 哲二
(独)産業技術総合研究所ナノ電子デバイス研究センター
-
大竹 晃浩
(独)物質・材料研究機構量子ドット研究センター
-
大竹 晃浩
JRCA-ATP
-
富田 博文
富士通研究所
-
石田 興太郎
東京理科大学理工学部物理学科
-
安田 哲二
産業技術総合研究所
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