非極性GaN基板上への選択MOVPE成長(窒化物及び混晶半導体デバイス,及び一般)
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概要
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(10-10)GaNや(20-21)GaN,(20-2-1)GaNをはじめとする非極性GaN基板上へのGaNの選択MOVPE成長を行い,それによって形成されるファセット構造を明らかにした.SiO_2マスクのストライプ方向によって得られる構造は異なり,[-12-10]方向の場合には,全ての非極性GaN基板において主に(000-1)と(10-11)ファセットで構成される非対称な構造が得られた.一方,[-1014]及び[10-14]方向の場合には,(20-21)GaNでは{11-20}ファセット,(20-2-1)GaNでは(20-2-1)ファセットが大きく出現した.
- 一般社団法人電子情報通信学会の論文
- 2012-11-22
著者
-
平松 和政
三重大学
-
三宅 秀人
三重大学工学部電気電子工学科
-
長尾 哲
三菱化学科学技術研究センター
-
平松 和政
三重大 工
-
Matsushima Hidetada
Department Of Electronics School Of Engineering Nagoya University
-
神野 大樹
三重大学
-
岡田 俊祐
三重大学
-
江夏 悠貴
三菱化学
-
三宅 秀人
三重大学
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