Ti電極上コバルトナノ粒子の位置選択性制御(シリコン関連材料の作製と評価)
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概要
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現在、ナノプロセスの分野では有機分子のデバイス利用が盛んに行われている。複数の有機分子をうまく組み合わせることで、今まででに出来なかった極微の構造を可能にしている。フェリチンタンパク質粒子は、同一形状で均質な金属ドットを大量に複製できることで注目されている。本研究では遺伝子改質により特異的にTiを識別するフェリチン(TBF)をTi電極上に二次元結晶化させ、吸着前後で比較を行った。TBFを試料上に滴下した場合、Ti電極上に優先的に吸着され、SiO_2の露出部分には吸着していないことを確認した。その後、試料を500℃・1hrで焼成し、Ti電極上に吸着しているTBF粒子の殻を除去した。評価手法としてAFMを用い、試料の形状変化や吸着力特性の測定を行った。
- 一般社団法人電子情報通信学会の論文
- 2011-12-09
著者
-
山田 啓文
京都大学 大学院工学研究科
-
山下 一郎
奈良先端科学技術大学院大学物質創成科学研究科
-
浦岡 行治
奈良先端科学技術大学院大
-
浦岡 行治
奈良先端大:crest
-
山下 一郎
奈良先端科学技術大学院大学:パナソニック
-
山本 伸一
龍谷大理工
-
板倉 聡之
龍谷大理工
-
浦岡 行治
NAIST
-
山下 一郎
ATRL Panasonic
-
山田 啓文
京都大学
-
浦岡 行治
奈良先端大物質創成科学研究科
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