LQE2000-19 結合量子ドット間のトンネル時間の直接測定
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概要
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結合した量子ドット間のトンネル現象をストリークカメラを用いた時間分解フォトルミネッセンス測定によってとらえることに初めて成功し、そのトンネル時間を直接的に導出した。結合量子ドットは、In_<0.1>Al_<0.9>As量子ドット層とInAs量子ドット層がGaAs障壁層を挟んだ構造からなる。ここでは、キャリアはトンネル効果によって高エネルギー側にあるInAlAs量子ドット層の量子準位から低エネルギー側にあるInAs量子ドット層の量子準位に移動する。GaAs障壁層の幅が6, 8, 10nmとなっている3種類のサンプルの時間分解測定を行った。その結果、トンネル時間がWentzel-Kramers-Brillouin近似でよく記述できることが明らかになり、また、量子井戸間のトンネル時間との比較により、量子ドット間のトンネル時間は量子井戸のそれより一桁遅いことが明らかになった。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2000-06-14
著者
-
横山 直樹
(株)富士通研究所
-
横山 直樹
富士通研究所
-
中田 義昭
(株)富士通研究所
-
黒田 剛正
早稲田大学理工学部
-
竹内 淳
早稲田大学理工学部
-
横山 直樹
ナノテクノロジー研究センター株式会社富士通研究所
-
中田 義昭
富士通研究所
-
間瀬 和夫
早大理工
-
間瀬 和夫
早稲田大学理工学部
-
竹内 淳
早稲田大 理工
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