故障の自己検出・自律的再構成が可能なプログラマブル論理回路
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概要
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LSI技術の進歩につれて, LSIは年々大規模化し, sub-0.1μm ULSIにおいては, 1000万ゲート規模の集積が可能となる。しかし, 大規模化につれて, その信頼性は急速に低下するため, 信頼性の確保が大きな課題になることが予想される。信頼性の向上に対する一つの方法は冗長性の導入である。しかし, メモリLSIに比べてロジックLSIはその機能が多様で複雑なために, 効率的に冗長性を導入することが困難である。一方で, LSI設計の短TAT化への要求から, 近年フィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ(FPGA)に代表されるプログラマブルロジックLSIの需要が高まっている。プログラマブルロジックLSIはそのハードウエア上のオーバーヘッドゆえに, 大規模化への要求が強い一方, 元来冗長性を含み, 規則的な構造をもつという特徴がある。そこで今回, プログラマブルロジックLSIの冗長性, 規則性, プログラム性を利用した, 自己修復プログラマブルセルアレイ回路(ARCA: Autonomous Reconfigurable Cell Array)を開発した。内蔵するSRAMにより回路をプログラムする。回路における故障の発生をリアルタイムに自己検出し, セルアレイの再構成を行うことにより, オンラインで自律的に故障を修復する。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1997-03-06
著者
-
柴山 充文
NECシステムIPコア研究所
-
水野 正之
NECデバイスプラットフォーム研究所
-
山品 正勝
NEC
-
山品 正勝
Necラボラトリーズシステムデバイス・基礎研究本部シリコンシステム研究所
-
山品 正勝
Necシリコンシステム研究所 システムulsi研究部
-
水野 正之
NEC Corporation
-
井倉 裕之
日本電気株式会社
-
井倉 裕之
NEC
-
柴山 充文
NEC Corporation
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