水野 正之 | NECデバイスプラットフォーム研究所
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概要
関連著者
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水野 正之
NECデバイスプラットフォーム研究所
-
山品 正勝
Necラボラトリーズシステムデバイス・基礎研究本部シリコンシステム研究所
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山品 正勝
Necシリコンシステム研究所 システムulsi研究部
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水野 正之
NEC Corporation
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水野 正之
日本電気株式会社
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野瀬 浩一
NECデバイスプラットフォーム研究所
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古田 浩一朗
NEC
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山品 正勝
NEC
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水野 正之
日本電気株式会社デバイスプラットフォーム研究所
-
安生 健一朗
NECラボラトリーズシステムデバイス・基礎研究本部シリコンシステム研究所
-
山品 正勝
NEC Corporation
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中澤 陽悦
日本電気(株)デバイスプラットフォーム研究所
-
中沢 陽悦
Nec Corporation
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住 能和
NEC情報システムズ
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藤井 太郎
NECシリコンシステム研究所
-
柴山 充文
NECシステムIPコア研究所
-
山品 正勝
日本電気株式会社
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本村 真人
NECシリコンシステム研究所
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安彦 仁
日本電気ULSIデバイス開発研究所
-
安彦 仁
NEC Corporation
-
本村 真人
Nec シリコンシステム研究所
-
本村 真人
NECマイクロエレクトロニクス研究所
-
野村 昌弘
Necエレクトロニクス(株)lsi基礎開発研究所
-
伊藤 浩
日本電気株式会社
-
山品 正勝
Nec シリコンシステム研究所
-
若林 一敏
日本電気株式会社
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柴山 充文
NEC Corporation
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広田 義則
Nec R&dサポートセンター
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野村 昌弘
STARC
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廣田 義則
Nec R&dサポートセンター
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野村 昌弘
日本電気株式会社デバイスプラットフォーム研究所
-
野村 昌弘
半導体理工学研究センター(starc)
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佐藤 隆徳
NECエンジニアリングサイバーソリューションズ事業部
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山口 博史
Nec Corporation
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野瀬 浩一
日本電気株式会社:慶應義塾大学
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南 公一郎
NEC Corporation
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中野 俊彦
NEC Corporation
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松島 祐介
NEC Corporation
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山信田 恒
NEC Corporation
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若林 整
NEC
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若林 整
NEC(株)システムデバイス研究所
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井倉 裕之
日本電気株式会社
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井倉 裕之
NEC
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若林 整
NECラボラトリーズシステムデバイス・基礎研究本部シリコンシステム研究所
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最上 徹
NECラボラトリーズシステムデバイス・基礎研究本部シリコンシステム研究所
-
若林 整
ソニー(株)
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小野 篤樹
NEC Corporation
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尾野 年信
Necエレクトロニクス設計技術開発部
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野口 宏一朗
NECデバイスプラットフォーム研究所
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尾野 年信
Nec
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堀内 忠彦
NECエレクトロニクス(株)先端プロセス事業部
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枝廣 正人
Necシステムipコア研究所
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山田 八郎
NEC
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山田 八郎
NECマイクロエレクトロニクス研究所
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山口 博史
日本電気株式会社
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南 公一郎
日本電気株式会社
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中野 俊彦
日本電気株式会社
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松島 祐介
日本電気株式会社
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山信田 恒
日本電気株式会社
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水野 正之
NECラボラトリーズシステムデバイス・基礎研究本部シリコンシステム研究所
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深石 宗生
NECラボラトリーズシステムデバイス・基礎研究本部シリコンシステム研究所
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安生 健一朗
NEC Corporation
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古田 浩一朗
日本電気株式会社
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藤井 太郎
日本電気株式会社
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本村 真人
日本電気株式会社
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野村 昌弘
日本電気株式会社
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安生 健一朗
日本電気株式会社
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広田 義則
日本電気株式会社
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中澤 陽悦
日本電気株式会社
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松本 明
日本電気ULSIデバイス開発研究所
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松本 明
NEC Corporation
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中澤 陽悦
NEC Corporation
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若林 一敏
日本電気株式会社 C&c メディア研究所
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岡部 一弘
NEC
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小野 篤樹
NEC
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深石 宗生
Nec
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深石 宗生
日本電気株式会社シリコンシステム研究所
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石崎 晴也
NECデバイスプラットフォーム研究所
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梶田 幹浩
日本電気株式会社
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實吉 永典
日本電気株式会社
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山品 正勝
NECラボラトリーズ システムデバイス・基礎研究本部 シリコンシステム研究所
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枝廣 正人
Necシステムデバイス研究所
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鳥居 淳
NECシステムIPコア研究所
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大井 康
NEC
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民谷 一郎
NEC
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広田 義則
NEC
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大井 康
Nec C&c メディア研究所
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鳥居 淳
Nec
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住 佳能
NEC Informatec Systems, Ltd.
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佐藤 隆徳
NEC Engineering, Ltd.
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本村 真人
NEC
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藤井 太郎
NEC
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若林 一敏
NEC
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中澤 陽悦
NEC
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伊藤 浩
NEC
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古田 浩一朗
NEC Corporation
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藤井 太郎
NEC Corporation
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若林 一敏
Nec C&cメディア研究所
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安生 健一朗
Necエレクトロニクス株式会社
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野村 昌弘
Nec
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石崎 晴也
ルネサスエレクトロニクス株式会社技術開発本部
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水野 正之
ルネサスエレクトロニクス株式会社技術開発本部
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後藤 順一
日本電気株式会社
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枝廣 正人
Nec C&c研究所
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後藤 順一
NEC
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穂積 政俊
NEC
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福田 浩之
NECアイシーマイコンシステム
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若林 整
NEC Corporation
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最上 徹
NEC Corporation
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堀内 忠彦
NEC Corporation
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柴山 売文
日本電気シリコンシステム研究所
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水野 正之
日本電気シリコンシステム研究所
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中澤 陽悦
日本電気シリコンシステム研究所
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出品 正勝
日本電気シリコンシステム研究所
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本村 真人
NEC Corporation
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林 直哉
NEC ULSIシステム開発研究所
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仙田 裕三
NEC C&Cメディア研究所
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仙田 裕三
日本電気株式会社
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井上 顕
Necエレクトロニクス株式会社先端デバイス開発事業部
-
田村 貴央
Necエレクトロニクス、先端デバイス開発事業部
-
仙田 裕三
NECマルチメディア研究所
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山田 泰久
NEC エレクトロンデバイス 先端デバイス開発本部
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益岡 完明
NEC Corporation
-
田村 貴央
NEC Corporation
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山田 泰久
NEC Corporation
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西沢 厚
NEC Corporation
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川本 英明
NEC Corporation
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井上 顕
NEC Corporation
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酒井 勲美
NEC Corporation
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中川 源洋
日本電気株式会社
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吉田 洋一
日本電気株式会社
-
黒田 忠広
日本電気株式会社
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實吉 永典
NECデバイスプラットフォーム研究所
-
梶田 幹浩
NECコンピュータ事業部
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黒田 忠広
日本電気株式会社:慶應義塾大学
-
吉田 洋一
日本電気株式会社:慶應義塾大学
-
山田 秦久
Nec エレクトロンデバイス 先端デバイス開発本部
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井上 顕
日本電気(株)
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中川 源洋
日本電気株式会社:慶應義塾大学
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住 佳能
Nec Informatec Systems Ltd.
-
井上 顕
Necエレクトロニクス
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仙田 裕三
Nec
著作論文
- 電力回生機能を有する0.2mm^2,27Mbps,3mW ADC/FFT-less周波数多重Body-Area-Network受信器の開発(アナログ,アナデジ混載,RF及びセンサインタフェース回路)
- 周期的同期方式によるマルチコアSOCプラットフォーム向けクロッキング・アーキテクチャ(PLL,クロック,VLSI回路,デバイス技術(高速,低電圧,低消費電力))
- 周期的同期方式によるマルチコアSOCプラットフォーム向けクロッキング・アーキテクチャ(PLL,クロック, VLSI回路,デバイス技術(高速,低電圧,低消費電力))
- 1チップMPEG-2 MP@MLビデオ符号化LSIにおけるクロック制御方式
- 1GHz無制限位相調整が可能なディジタルDLL
- C-12-12 ディジタルDLLにおけるディレイライン制御方式の検討
- シンボル内適応間欠動作を有する2.4GHz ISM帯ディジタルCMOS無線トランシーバの開発(ディジタル・情報家電,放送用,ゲーム機用システムLSI,回路技術(一般,超高速・低電力・高機能を目指した新アーキテクチャ))
- ED2000-114 / SDM2000-96 / ICD2000-50 伝送線路を用いたオンチップGHzクロック分配手法
- 伝送線路を用いたオンチップGHzクロック分配手法
- 柔軟かつ高速な再構成を実現した動的再構成ロジックLSI
- C-12-34 動的再構成ロジックLSIの開発(2)
- C-12-33 動的再構成ロジックLSIの開発(1)
- リング状クロック線による低スキュークロック分配回路
- ゲーテッドクロックを用いた多ビットフリップフロップマクロによる電力削減
- クロック分配回路の電力消費に関する一考察
- 1チップMPEG-2 MP@MLビデオ符号化LSIにおける省面積, 低消費電力, 動きベクトル探索器
- 故障の自己検出・自律的再構成が可能なプログラマブル論理回路
- MOS電流モード(MCML)回路の消費電力特性の解析
- MOS電流モード回路を用いた適応型パイプライン技術(2)
- MOS電流モード回路を用いた適応型パイプライン技術(1)
- 電力回生機能を有する0.2mm^2,27Mbps,3mW ADC/FFT-less周波数多重Body-Area-Network受信器の開発(アナログ,アナデジ混載,RF及びセンサインタフェース回路)
- ED2000-114 / SDM2000-96 / ICD2000-50 伝送線路を用いたオンチップGHzクロック分配手法
- ED2000-114 / SDM2000-96 / ICD2000-50 伝送線路を用いたオンチップGHzクロック分配手法
- 柔軟かつ高速な再構成を実現した動的再構成ロジックLSI
- 柔軟かつ高速な再構成を実現した動的再構成ロジックLSI
- リング状クロック線による低スキュークロック分配回路
- クロックスキュー耐性のあるパイプラインレジスタ
- 1GHz無制限位相調整が可能なディジタルDLL
- 1GHz無制限位相調整が可能なディジタルDLL
- C-12-6 誘導結合チップ間リンクの通信距離拡張技術(C-12.集積回路,一般セッション)
- 高機能FFによる微小遅延故障検出技術の小面積化手法(インダストリアルセッション,設計/テスト/検証)
- C-12-7 高信頼なLSIを実現するための微小遅延欠陥検出技術(C-12.集積回路,一般セッション)
- スーパーコンピュータSXにおける熱設計およびオンチップ温度観測(高性能プロセッサ・システムLSIの実装設計,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
- スーパーコンピュータSXにおける熱設計およびオンチップ温度観測(高性能プロセッサ・システムLSIの実装設計,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
- 2008年VLSI回路シンポジウム報告
- C-12-63 サブスレッショルド電流を用いた小面積・低電力・デジタル出力温度センサ(C-12.集積回路,一般セッション)
- 高信頼なLSIを実現するための微小遅延欠陥検出技術(低電圧/低消費電力技術,新デバイス・回路とその応用)
- 高信頼なLSIを実現するための微小遅延欠陥検出技術(低電圧/低消費電力技術,新デバイス・回路とその応用)
- RFテスト・診断向け小面積RF信号品質観測マクロの開発(チップ・パッケージ・ボードにおけるパワーインテグリティの設計評価,LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術、テスト技術、一般)
- RFテスト・診断向け小面積RF信号品質観測マクロの開発(チップ・パッケージ・ボードにおけるパワーインテグリティの設計評価,LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術、テスト技術、一般)
- ジッタオーバサンプリング技術を用いた1ps分解能ジッタ測定マクロの開発(VLSI一般(ISSCC2006特集))