野瀬 浩一 | NECデバイスプラットフォーム研究所
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概要
関連著者
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野瀬 浩一
NECデバイスプラットフォーム研究所
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水野 正之
NECデバイスプラットフォーム研究所
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水野 正之
日本電気株式会社
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尾野 年信
Necエレクトロニクス設計技術開発部
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野口 宏一朗
NECデバイスプラットフォーム研究所
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尾野 年信
Nec
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水野 正之
日本電気株式会社デバイスプラットフォーム研究所
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野瀬 浩一
日本電気株式会社:慶應義塾大学
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梶田 幹浩
日本電気株式会社
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實吉 永典
日本電気株式会社
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枝廣 正人
Necシステムデバイス研究所
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枝廣 正人
Necシステムipコア研究所
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柴山 充文
NECシステムIPコア研究所
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鳥居 淳
NECシステムIPコア研究所
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鳥居 淳
Nec
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石崎 晴也
NECデバイスプラットフォーム研究所
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石崎 晴也
ルネサスエレクトロニクス株式会社技術開発本部
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水野 正之
ルネサスエレクトロニクス株式会社技術開発本部
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實吉 永典
NECデバイスプラットフォーム研究所
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梶田 幹浩
NECコンピュータ事業部
著作論文
- 周期的同期方式によるマルチコアSOCプラットフォーム向けクロッキング・アーキテクチャ(PLL,クロック,VLSI回路,デバイス技術(高速,低電圧,低消費電力))
- 周期的同期方式によるマルチコアSOCプラットフォーム向けクロッキング・アーキテクチャ(PLL,クロック, VLSI回路,デバイス技術(高速,低電圧,低消費電力))
- シンボル内適応間欠動作を有する2.4GHz ISM帯ディジタルCMOS無線トランシーバの開発(ディジタル・情報家電,放送用,ゲーム機用システムLSI,回路技術(一般,超高速・低電力・高機能を目指した新アーキテクチャ))
- 高機能FFによる微小遅延故障検出技術の小面積化手法(インダストリアルセッション,設計/テスト/検証)
- C-12-7 高信頼なLSIを実現するための微小遅延欠陥検出技術(C-12.集積回路,一般セッション)
- スーパーコンピュータSXにおける熱設計およびオンチップ温度観測(高性能プロセッサ・システムLSIの実装設計,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
- スーパーコンピュータSXにおける熱設計およびオンチップ温度観測(高性能プロセッサ・システムLSIの実装設計,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
- C-12-63 サブスレッショルド電流を用いた小面積・低電力・デジタル出力温度センサ(C-12.集積回路,一般セッション)
- 高信頼なLSIを実現するための微小遅延欠陥検出技術(低電圧/低消費電力技術,新デバイス・回路とその応用)
- 高信頼なLSIを実現するための微小遅延欠陥検出技術(低電圧/低消費電力技術,新デバイス・回路とその応用)
- RFテスト・診断向け小面積RF信号品質観測マクロの開発(チップ・パッケージ・ボードにおけるパワーインテグリティの設計評価,LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術、テスト技術、一般)
- RFテスト・診断向け小面積RF信号品質観測マクロの開発(チップ・パッケージ・ボードにおけるパワーインテグリティの設計評価,LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術、テスト技術、一般)
- シンボル内適応間欠動作を有する2.4GHz ISM帯ディジタルCMOS無線トランシーバの開発 (コンシューマエレクトロニクス)
- ジッタオーバサンプリング技術を用いた1ps分解能ジッタ測定マクロの開発(VLSI一般(ISSCC2006特集))