尾野 年信 | Necエレクトロニクス設計技術開発部

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概要

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• 同名の論文著者
• Necエレクトロニクス設計技術開発部の論文著者

関連著者

• 尾野 年信

  Necエレクトロニクス設計技術開発部

• 尾野 年信

  Nec

• 野瀬 浩一

  NECデバイスプラットフォーム研究所

• 水野 正之

  NECデバイスプラットフォーム研究所

• 水野 正之

  日本電気株式会社

• 野口 宏一朗

  NECデバイスプラットフォーム研究所

• Roy Rabindra

  NEC

著作論文

• 高機能FFによる微小遅延故障検出技術の小面積化手法(インダストリアルセッション,設計/テスト/検証)
• C-12-7 高信頼なLSIを実現するための微小遅延欠陥検出技術(C-12.集積回路,一般セッション)
• 高信頼なLSIを実現するための微小遅延欠陥検出技術(低電圧/低消費電力技術,新デバイス・回路とその応用)
• 高信頼なLSIを実現するための微小遅延欠陥検出技術(低電圧/低消費電力技術,新デバイス・回路とその応用)
• 再収斂に着目したパーシャルスキャン手法

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