再収斂に着目したパーシャルスキャン手法

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概要

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回路中の再収斂に着目した新しいパーシャルスキャンFFの選択手法を提案する。順序回路におけるFFを経由する再収斂は、その経由するFFのうち1個を、スキャンFFとすることで取り除くことが可能である。提案手法は、テストパターン生成の障害となる再収斂の数を減少させるようにスキャンすべきFFを選択する。回路中のすべての再収斂を検出することは現実的ではないため、1個のFFを経由して再収斂するものだけに着目し、ループの切断との組み合わせにより、最適なスキャンFFを選択するアルゴリズムを示した。ベンチマーク回路を用いた実験により、単にループの切断だけを考慮した場合と比較して、提案手法により、同じスキャンFF数でよりテストパターン生成が容易な回路が得られることを確認した。
社団法人電子情報通信学会の論文
1993-12-16

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