安彦 仁 | NEC Corporation
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概要
関連著者
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山品 正勝
Necシリコンシステム研究所 システムulsi研究部
-
安彦 仁
日本電気ULSIデバイス開発研究所
-
安彦 仁
NEC Corporation
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山品 正勝
Necラボラトリーズシステムデバイス・基礎研究本部シリコンシステム研究所
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水野 正之
NEC Corporation
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小野 篤樹
NEC Corporation
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水野 正之
NECデバイスプラットフォーム研究所
-
山品 正勝
NEC
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山田 八郎
NEC
-
山田 八郎
NECマイクロエレクトロニクス研究所
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山品 正勝
NEC Corporation
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井倉 裕之
日本電気株式会社
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井倉 裕之
NEC
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岡部 一弘
NEC
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小野 篤樹
NEC
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古田 浩一朗
NEC
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松本 明
日本電気ULSIデバイス開発研究所
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柴山 充文
NEC Corporation
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松本 明
NEC Corporation
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中澤 陽悦
NEC Corporation
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中澤 陽悦
日本電気(株)デバイスプラットフォーム研究所
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中沢 陽悦
Nec Corporation
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野村 昌弘
Necエレクトロニクス(株)lsi基礎開発研究所
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柴山 充文
NECシステムIPコア研究所
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鈴木 一正
NECシリコンシステム研究所
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泉川 正則
NEC
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中山 貴司
NEC
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野村 昌弘
STARC
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鈴木 一正
Nec
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酒井 勲美
NEC Corporation
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野村 昌弘
Nec
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後藤 順一
日本電気株式会社
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後藤 順一
NEC
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井上 俊明
川崎市公害研究所
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井上 俊明
NEC
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井上 顕
Necエレクトロニクス株式会社先端デバイス開発事業部
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田村 貴央
Necエレクトロニクス、先端デバイス開発事業部
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井上 俊明
NECシリコンシステム研究所
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山田 泰久
NEC エレクトロンデバイス 先端デバイス開発本部
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益岡 完明
NEC Corporation
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田村 貴央
NEC Corporation
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山田 泰久
NEC Corporation
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西沢 厚
NEC Corporation
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川本 英明
NEC Corporation
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井上 顕
NEC Corporation
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山田 秦久
Nec エレクトロンデバイス 先端デバイス開発本部
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井上 顕
日本電気(株)
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井上 顕
Necエレクトロニクス
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柴山 売文
日本電気シリコンシステム研究所
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水野 正之
日本電気シリコンシステム研究所
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中澤 陽悦
日本電気シリコンシステム研究所
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出品 正勝
日本電気シリコンシステム研究所
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古田 浩一朗
NEC Corporation
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塀内 秀樹
NEC
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小関 陽一
NEC
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矢野 陽一
NEC
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矢野 陽一
NECエレクトロニクスインコーポレイテッド
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成田 智
Necマイクロエレクトロニクス研究所
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小関 陽一
NECマイクロエレクトロニクス研究所システムULSI研究部
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矢野 陽一
日本電気株式会社ulsiシステム開発研究所
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成田 智
NEC Corporation
著作論文
- リング状クロック線による低スキュークロック分配回路
- 500MHz 32ワード x32ビット 3ポートレジスタファイル
- MOS電流モード(MCML)回路の消費電力特性の解析
- MOS電流モード回路を用いた適応型パイプライン技術(2)
- MOS電流モード回路を用いた適応型パイプライン技術(1)
- 500HMz,1.5%ジッタPLLクロック発生回路
- 500MHz32ビット0.4μm CMOS RISCマイクロプロセッサ
- リング状クロック線による低スキュークロック分配回路
- クロックスキュー耐性のあるパイプラインレジスタ
- リング状クロック線による低スキュークロック分配方式
- デバイスばらつきを補償する低電力エラスティックVtCMOS技術