プロセスの微細化に伴うデバイスばらつきの回路動作への影響
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概要
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- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1998-03-06
著者
-
相本 代志治
NEC
-
武田 晃一
NEC
-
中村 典嗣
NEC
-
木村 亨
Nec
-
木村 亨
Nec マイクロエレクトロニクス研究所システムulsi研究部
-
相本 代志治
Necエレクトロニクス株式会社
-
武田 晃一
NECシステムデバイス研究所
-
武田 晃一
NEC マイクロエレクトロニクス研究所
-
武田 晃一
Necエレクトロニクスlsi基礎開発研究所
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