縮退故障のテスト生成アルゴリズムを用いたパス遅延故障に対するテスト生成法(テスト手法, <小特集>LSIのテスト・診断技術論文)
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概要
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本論文では, 組合せ回路のノンロバストテスト可能なパス遅延故障に対するテスト生成を, 縮退故障用のテスト生成アルゴリズムを用いて行う方法を提案する. 具体的には与えられた組合せ回路をパスリーフ化変換を用いて部分リーフダグと呼ばれる回路へ擬似的に変換し, 部分リーフダグに対して縮退故障用のテスト生成アルゴリズムを用いてテスト生成を行い, 得られたテストパターンをもとの組合せ回路の2パターンテストに変換する. 本論文では更に, 提案手法の正当性を示し, ベンチマーク回路に対する実験結果より有効性を示す.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2005-06-01
著者
-
藤原 秀雄
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
-
大竹 哲史
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科:科学技術振興機構 Crest
-
大竹 哲史
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
-
大谷 浩平
三洋電機株式会社コンポーネント企業グループセミコンダクターカンパニー
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