弱可検査性を考慮したデータパスの高位合成
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概要
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本稿では,テスト容易性の1つの尺度である弱可検査性を考慮した品位合成の手法を提案する. まず,データフローグラフを解析することにより得られる,合成したデータパスが弱可検査となるための十分な設計目標に関して考察する. 次に,それらの設計目標を考慮してスケジューリング及びバインディグを行う手法を提案する. この手法を用いることにより,動作速度に制約がある場合に面積とテスト容易性を考慮した高位合成を行うことができる.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1997-02-13
著者
-
藤原 秀雄
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
-
井上 美智子
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
-
増澤 利光
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
-
井上 美智子
奈良先端科学技術大学院大学
-
埜田 健治
奈良先端科学技術大学院 大学情報科学研究科
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