単結晶ダイヤモンドの反応性イオンビーム援用化学加工とXPSによる照射損傷評価
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概要
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- 2002-10-01
著者
-
宮本 岩男
東京理科大学 基礎工学研究科電子応用工学専攻
-
谷口 淳
東京理科大学基礎工学部
-
谷口 淳
東京理科大学
-
宮本 岩男
東京理科大学基礎工学部
-
河端 雄作
東京理科大学基礎工学部
-
宮本 岩男
東京理科大学
-
宮本 岩男
東京理科大学基礎工学研究科電子応用工学専攻
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